๋ฐ์ฌ์ค
(Jae-Jun Park)
1โ
-
(Dept. of Electrical and Electronic Engineering, Kiee University, Korea)
Copyright ยฉ The Korean Institute of Electrical Engineers(KIEE)
Key words
HVDC positive and negative polarity, IPT tracking and erosion, LSR/Nano silica composites, Leakage current, thermo imager, Erosion weight
1. ์๋ก
์ ํต์ ์ผ๋ก ์ก์ ์ ๊ณผ ๋ฐฐ์ ์ ์ ์ฌ์ฉ๋์๋ ์ธ๋ผ๋ฏน ์ ์๋ ์ฒ์ฒํ ๊ณ ๋ถ์ ์ ์๋ก ๋์ฒด๋๊ณ ์๋ค. ๊ณ ๋ถ์ ์ ์๋ ๋ฌด๊ฒ๊ฐ ๊ฐ๋ณ๊ธฐ ๋๋ฌธ์ ์ค์น ๋ฐ ์์ด์ ๋น์ฉ์
ํฌ๊ฒ ์ค์ผ ์ ์๋ค. ๋ํ ์์์ฑ(hydrophobic)์ด๊ธฐ ๋๋ฌธ์ ํนํ ์ด๊ธฐ ์๋น์ค ๊ธฐ๊ฐ ๋์ ์ ์ก ์์ค์ด ์ค์ด๋ ๋ค. ๋ํ ๊ณ ๋ถ์์ด๊ธฐ ๋๋ฌธ์ ์ด๋ค
ํํ์ ํฌ๊ธฐ๋ก๋ ์ฑํ ๋ ์ ์์ผ๋ฏ๋ก ์ค๊ณ ์ค์ ๋ ํฐ ์ ์ฐ์ฑ์ ์ ๊ณตํฉ๋๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋ ๊ณ ๋ถ์ ์ ์๋ ํ๋ฉด ์์์ฑ(surface hydrophobicity)์ผ๋ก
์ผ์์ ์ธ ์์ค, ํธ๋ํน์ ์ํ ํํ๋ก์ ํ์ฑ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ์ฝ๋ก๋ ๋ฐ ์ํฌ์ฑ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ ์ํด ํ๋ฉด์ ์นจ์๊ณผ ๊ฐ์ ํน์ ํ ๋จ์ ์ ๊ฐ์ง๊ณ ์๋ค. ์ง๋ 30๋
๋์ ์ฅ์ธ์ฉ ๊ณ ๋ถ์ ์ ์์ ์ฅ๊ธฐ ์ดํ๋ฅผ ์ดํดํ๊ธฐ ์ํ์ฌ ์ฌ๋ฌ ์ฐ๊ตฌ์ค ๋ฐ ์ฐ๊ตฌ๊ธฐ๊ด์์ ์ฐ๊ตฌ๊ฐ ์ํ ๋์๋ค(1-5).
์ต๊ทผ์๋ ์ ๋ ฅ์ ์์ ๋๋ถ์ ๋ฐ์ ์ผ๋ก ์ธํ์ฌ HVDC ์ ๋ ฅ์์ก์ ๊ดํ ์ฐ๊ตฌ๊ฐ ๋ฒ์ธ๊ณ์ ์ผ๋ก ๋ง์ ๊ด์ฌ์ ๊ฐ๊ฒ ๋์๋ค. HVDC ์ด๊ณ ์ ์ ์ก์ ์ฌ์ฉ๋๋
๋ผ์ธ ํฌ์คํธ์ ์ ๋ฐ Yard์ฉ station ์ ์ ๋ฑ์ ๋ ํฐ ๋ฌธ์ ์ ์ง๋ฉด ํด ์๋ค. HVDCํ์์ ์ ์ ๊ณ๋ ์ผ์ ํ๊ณ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ๋จ๋ฐฉํฅ์
๋๋ค. ์ด๊ฒ์
๊ทผ์ฒ์ ๊ณต๊ธฐ์ค์ผ๋ฌผ์ง์ ์ ์ํ๋ฉด์ผ๋ก ์ง์์ ์ผ๋ก ๋์ด๋น๊ธฐ์ด ์ ์ฐ์ฒด ๊ณ ๋ถ์ ์ ์ํ๋ฉด์ ์ค์๋ฌผ์ง์ ์ถ์ ํ๊ฒ ํฉ๋๋ค. T.C. Cheng and C.T. Wu(6) ์ฐ๊ตฌ์์ ๋์ผํ ์ ๊ณ ์กฐ๊ฑดํ์์ ๊ต๋ฅ์ ๊ณ๋ณด๋ค HVDC์ ๊ฒฝ์ฐ 1.2~ 1.5๋ฐฐ ์ ๋ ๊ฐํนํฉ๋๋ค. ๋ํ HVDC ์ ๋ ฅ์์ก์ ์ฌ์ฉ๋๋ ๊ณ ๋ถ์์ ์๋ ๋์ฑ๋
๋์ ํ๋ฉด ์ ๋๋์ ๋์ค์ ๋ฅ์ ๊ฒฌ๋๋ ๊ฒ์ ํ์๋ก ํฉ๋๋ค. ๋ฐ๋ผ์, ๋์ค์ ๋ฅ๊ฐ ์ปค์ง๋ฉด ํ๋ฉด์จ๋์ ์์น์ผ๋ก ๊ณ ๋ถ์์ ์์ ํ๋ฉด์ ์นจ์์ด ๋์ฑ๋ ๊ฐํนํ๊ฒ
๋ฉ๋๋ค. ๊ณ ๋ถ์์ ์์์๋ ์ ์ฐ์์ฌ์ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ ๋ํ ๋ด์ฑ์ ๊ดํ ์ฐ๊ตฌ๊ฐ ๋งค์ฐ ์ค์ํฉ๋๋ค. HVDC์ ์ค์๋ฌธ์ ๊ฐ ์ปค์ง๋ฉด ๊ณ ๋ถ์์ ์์ ์ฐ๋ฉด๊ฑฐ๋ฆฌ๋ฅผ
์ฆ๊ฐํ์ฌ ๊ด๋ฆฌ๋ ์ ์์ง๋ง, ์ด๊ฒ๋ง์ผ๋ก ํด๊ฒฐ๋๋ ๋ฌธ์ ๋ ์๋๋ค.
Joseph Vimal Vas(7) ์ฐ๊ตฌ์๋ค์ ์ค๋ฆฌ์ฝ ๊ณ ๋ฌด์ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์ ์ฑ๋ฅ์ ์ ๊ทน์ฑ ์ง๋ฅ ์ ์์ ๋นํด ๋ถ๊ทน์ฑ ์ง๋ฅ์์ ๋ ๋์ ๊ฒ์ผ๋ก ๋ํ๋ฌ์ต๋๋ค. N. Loganathan(8)์ ์ฐ๊ตฌ์๋ค์ ์ด ๋
ธํ๋ ๋๋
ธ ์ถฉ์ SiR ๋ณตํฉ์ฌ์ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ ์ฝ๊ฐ ๊ฐ์์ํต๋๋ค. S. M. Rowland(9) ์ฐ๊ตฌ์ ๋ค์ ๋์ค ์ ๋ฅ ์ธก์ ๊ณผ ํจ๊ป ๋จธ์ ๋น์ ์นด๋ฉ๋ผ๋ฅผ ์ฌ์ฉํ์ฌ ์ํฌ ๊ฐํ์ฑ์ ์ธก์ ํ์๊ณ , ๊ธฐ์กด์ ๋์ค ์ ๋ฅ ๋ถ์ ๊ธฐ์ ์ ์ดํ๊ณผ์ ๋ฐ ์ ์ ๊ทน์ฑ์
๋ํ ์์กด์ฑ์ ์ฐ๊ตฌํ์๋ค.
๋ณธ ์ฐ๊ตฌ์์๋ ํ์์ด ์์ ๋กญ๊ณ , ๊ฐ๊ณต์ด ์ฉ์ดํ LSR(Liquid Silicone Rubber)๋ฅผ ์ด์ฉํ์ฌ ๋๋
ธ์ค๋ฆฌ์นด๋ฅผ ๊ณผ๋ ์ถฉ์ง(25wt%) ๋ถ์ฐ์์ผ,
HVDC์ฉ ์ด๊ณ ์์ ์์ ์ ์ฐ์์ฌ๋ฅผ ๊ฐ๋ฐํ๊ธฐ ์ํ์ฌ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์ ์คํ์ ์ํ ์ํ์ ์ ์กฐํ์๋ค. ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ IEC 60587์ ํ์ค์ ์ํ์ฌ ์ ์๋ง
๋ณ๊ฒฝ, ์ฆ AC๊ธฐ๋ฐ์์ ยฑDC ๊ธฐ๋ฐ์ ์คํ์ ์ค์ํ์๋ค. ยฑDC(3.5kV)์ ์ธ๊ฐํ์๊ณ , ์ค์์ก์ ์๋๋ 0.3ml/min ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ์ฑ๊ณต๊ณผ ์คํจ์
๊ธฐ์ค์ 60mA/2s๋ก ํ์๋ค. ๊ทธ ๊ฒฐ๊ณผ ์ ๊ทน์ฑ๊ณผ ๋ถ๊ทน์ฑ์ ์ธ๊ฐํ์ฌ LSR/Nano silica composites_25 wt% ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์
ํน์ฑ์ ๋์ค์ ๋ฅ, ์ดํ์์นด๋ฉ๋ผ์ ์ํ ์จ๋์ธก์ ์ ํตํ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ ๊ดํ์ฌ ์ฐ๊ตฌํ์๋ค.
2. ์ค ํ
2.1 ์ฌ๋ฃ
๋ณธ ๋
ผ๋ฌธ์์ ์ฌ์ฉ๋ Vinyl Polymer์ธ ์ค๋ฆฌ์ฝ์์ง๋ ์ ๋ง๋จ์ ๋น๋๊ธฐ๋ฅผ ๊ฐ๋ vinyl terminated polydimethylsiloxane
(PDMS: ๋ค๋ฏธํด๋ฆฌ์ผ(์ฃผ): VP20000), ์ด๊ฒ์ ๋ถ์๋์ 72,000g/mol์ด๊ณ , ์ ๋๋ 25โ์์ 20,000 cst์ด๋ฉฐ, ๋น๋๊ธฐ์ ๋น๋์
33,333~ 40,000g/eq์ด๋ค. ๊ฐ๊ต์ (Crosslinker)๋ trimethylsilyl terminated poly(dimethylsiloxane-co-methylhydrosiloxane
๋ค๋ฏธ ํด๋ฆฌ์ผ(์ฃผ), ์ํ๋ช
: FD503)์ ์ฌ์ฉํ์๋ค. Pt Catalyst(๋ฐฑ๊ธ ์ด๋งค)๋ ๋น๋ ํด๋ฆฌ๋จธ์ ๋ฐฑ๊ธ ํจ๋์ด 0.4%์ธ ์ ํ(๋ค๋ฏธ ํด๋ฆฌ์ผ(์ฃผ),
์ํ๋ช
:CP1034)์ ์ฌ์ฉํ์๊ณ , ์ ์ ํ ์์
์๊ฐ์ ์ป๊ธฐ ์ํด์ ๊ฒฝํ ์ต์ ์ ๋ก ๋น๋์ค๋ฆฌ์ฝํด๋ฆฌ๋จธ์ ๋ถํฌํ ์์ฝ์ฌ๊ธฐ๋ฅผ ๊ฐ๋ ๊ฒ์ ์ฌ์ฉํ์๋ค. ๋๋
ธ ์ค๋ฆฌ์นด๋
hexamethyldisilazane([(CH3)3Si]2NH)๋ก ํ๋ฉด์ฒ๋ฆฌ๋ ์์์ฑ Fumed Silica(AEROSILยฎ R 812S, EVONIK Industries AG), ๋๋
ธ์ค๋ฆฌ์นด ํ๊ท ์
๋๋ 7nm์ธ
์ ํ์ ์ฌ์ฉํ์๋ค. ์ด๊ฒ์ BET ๋นํ๋ฉด์ ์ 220ยฑ25m2/g์ด์๋ค.
2.2 SiR/Nano Silica Composites ์ ์กฐ
์ค๋ฆฌ์ฝ ๊ณ ๋ฌด ์ํธ์ ์ ์กฐํ๊ธฐ ์ํด์ ๋จผ์ ์ค๋ฆฌ์ฝ ๋ฒ ์ด์ค ์์ง 100g๊ณผ ๋๋
ธ ์ค๋ฆฌ์นด 0~30g (5, 10, 15, 20, 25, 30g)์ ์์ ๊ณต์ ์
๋ฏน์๊ธฐ์ ๋ฃ๊ณ , ์ง๊ณต๊ณผ ์จ๋ 120โ ํ๊ฒฝ์์ 2mm๊ฐ๊ฒฉ์ ๊ณต์ ์์ ๊ต๋ฐ ์ ๋จ๋ ฅ์ ๊ฐ์ ์ง๊ณต์์คํ
ํ์์ 3์๊ฐ ๋์ ๋ถ์ฐ ํ, ๊ฐ๊ต์ 2g๊ณผ ๊ฒฝํ
์ต์ ์ 0.03g์ ๋ฃ๊ณ ํผํฉํ์๋ค. ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ์ต์ข
์ ์ผ๋ก ๋ฐฑ๊ธ ์ด๋งค 0.1g์ ํผํฉํ ํ 150โ์ ๋ชฐ๋์ ์ฃผ์
ํ๊ณ 10๋ถ ๊ฒฝํ์์ผ์ ์ํ ์ํธ์ ์ ์กฐํ์๋ค.
IPT(Inclined Plate Tracking and Erosion Test)์ ์ํ ์ํ๋ก์ 50ร1250ร6mm์ ์ํ์ ๊ตฌ์ฑํ์๋ค. ์ค๋ฆฌ์ฝ๋ฉํธ๋ฆญ์ค์
Nano Silica์ ์ถฉ์งํจ๋์ 25wt%๋ก ์ ์กฐ๋ ์ํ์ ์ด์ฉํ์๋ค.
2.3 HVDC IPT ์ธก์ ์์คํ
๊ตฌ์ฑ
ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ํ ์์คํ
์ค์ ์ DC ์ ์์ด ์ฌ์ฉ๋๋ ๊ฒ์ ์ ์ธํ๊ณ ๋ IEC 60587, ASTM D2303, IPT(inclined tracking
and erosion test) ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์ ํ
์คํธ๋ฅผ ์ค์ํฉ๋๋ค. ํ ์์ ์คํ
์ธ๋ฆฌ์ค ์ ๊ทน์ด ํธํํ ์ง์ฌ๊ฐํ ์ ์ฐ์ฒด ์ํ (KS C IEC 60587)์ด
ํ๋ฉด์ ๋ถ์ฐฉ๋ฉ๋๋ค. HVDC ์ ๊ทน์ฑ์ ์คํ์ ์๋ถ ์ ๊ทน์ ์ผ๋ จ์ ๋ณดํธ ์ ํญ(1,10,22,33๏ฝฮฉ)์ค 22kฮฉ์ ํตํด ์ง๋ฅ ๊ณ ์ ์ ์ ์์ ์ํด ์์ฑ๋
์ ๊ทน์ฑ์ด ์ฐ๊ฒฐ๋๋ฉฐ, ํ๋ถ ์ ๊ทน์ ์ ์ง์ ์ฐ๊ฒฐ๋ฉ๋๋ค. HVDC ๋ถ๊ทน์ฑ ์คํ์ ์๋ถ์ ๊ทน์ ๋ถ๊ทน์ฑ ์ ์๋ฅผ ๊ฐ๋ ๊ฒ์ผ๋ก ์ ์ํ๊ณ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ํ๋ถ์ ๊ทน์ ์ ์ง๋ก
์ฐ๊ฒฐ๋ฉ๋๋ค.
์ํ์ ์ธก์ ์ํํ๋ฉด์ด ์๋์ชฝ์ ์ํ์ ์ด๋ฃจ๋ ๊ฐ๋ 45ยฐ๋ก ์ค์น๋ฉ๋๋ค. ์๋ถ ์ ๊ทน ์๋์ ๊ณ ์ ๋ ์ฌ๊ณผ์ง๋ฅผ ์ฌ์ฉํ์ฌ ์ค์ ๋ฌผ์ง (ํ์ด์จ์+NH4Cl+๋น๋์ ์ธ Triton X-100์ผ๋ก ๋ง๋ ์ค์์ก)์ ์ผ์ ํ ๊ฐ๊ฒฉ๋์ ๋ฏธ๋์ ์ค์ ์ก์ด ๊ทธ๋ฆผ. 1์์ ๋ณด์ฌ์ค ๋ฐ์ฒ๋ผ ์ ๊ทน์ฌ์ด ์ํ ์๋ซ๋ฐฉํฅ์ผ๋ก ๋จ์ด๋จ๋ฆฝ๋๋ค. ์ค์์ก์ด ํํฐ์ฉ์ง๋ฅผ ํตํ์ฌ ์๋ถ์ ๊ทน์ ๊ตฌ๋ฉ์ผ๋ก๋ถํฐ ๋์ค๊ณ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ํ๋ถ์ ๊ทน์ ๋ํ์ ํจ๊ณผ
์์ด ์ค์์ก์ด ํ๋ฅด๋๋ก ์ผ๋ จ์ ๊ฐญ์ ๊ฐ๊ฒ ๋์๋ค. ์ง์ ๋ ์ ๊ทน๋ค์ ์ ์ฐ๊ฑฐ๋ฆฌ๋ฅผ 50mm๋ก ๋ถ๋ฆฌํ๊ณ ์ฐ์์ ์ธ ๋ถ๊ฝ ๋๋ ์ฌ๊ด(scintillation)
์ฆ, ๊ฑด์กฐ๋์ํฌ(Dry Band Arc) ๋ฐ์ํ๋๋ก HVDC ยฑ3.5kV๋ฅผ ์ธ๊ฐํฉ๋๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 1. ํธ๋ํน ์คํ์์คํ
Fig. 1. Tracking experiment system
์ ์์ธ๊ฐ ์ ์ ์ฐ์์ ์ธ ์ค์์ก์ด ํ๋ฅด๋ ๊ธธ์ด ์ฃผ์ด์ง ์ ์์ ํญ์ ์ ์ง๋์ด์ผ ํ๊ณ ๊ทธ๋์ ์ ์์ฑ(wetting)๊ณผ ๋ฐฉ์ (scintillation)์
์ฐ์์ ์ธ ์ฌ์ดํด์ ์ต์ ํ๊ธฐ ์ํ ์์์ฑ(hydrophobic) ํ๋ฉด์ ๋ฅ๋ ฅ์ ์ต์ํํ์ฌ์ผ ํฉ๋๋ค. ์ ํญ R1์ ์ ๋ฅ๋ฅผ ์ ํํ๊ธฐ ์ํ ์ ํญ์ด๋ฉฐ, R2๋
๋์ค์ ๋ฅ์ ๊ณ์ธก์ ์ํ ์ ํญ์ด๋ค. IEC 60587์ ๋ฐ๋ผ ์ค์์ก์ ์ ๋๋๋ 2.5mS/cm๋ก ํ์์ต๋๋ค. ์ค์์ก์ด ๋ฐฐ์ถ๋๋ ์๋ถ์ ๊ทน์ ์ ์(์ ๊ทน์ฑ
๋ฐ ๋ถ๊ทน์ฑ)์ด ์ธ๊ฐ๋๊ณ 0.3ml/min์ ๋์ด ์ผ์ ํ๊ฒ ํ๋ฅด๊ฒ ๋ฉ๋๋ค. ์ ๊ทน์ฑ ๋ฐ ๋ถ๊ทน์ฑ์ HVDC์ ์์ 3.5kV๋ฅผ ์ธ๊ฐํ์๊ณ , IEC 60587์์
AC ๋์ค ์ ๋ฅ ๊ธฐ๋ฐ fail ์กฐ๊ฑด์ ๋ฐ๋ผ 60mA ์ด์์ ์ ๋ฅ๊ฐ 2์ด ๋์ ์ง์๋ ๊ฒฝ์ฐ์
๋๋ค. ์ธก์ ์๊ฐ์ ์ค์น๋ 6์๊ฐ ํ์ ์ํ์ด ์ข
๋ฃ๋ฉ๋๋ค.
2.4 ์ธก์ ์์คํ
2.4.1 Leakage Current
๋์ค์ ๋ฅ ์ธก์ ์ ๋์ค์ ๋ฅ ์ธก์ ์ฅ์น์ธ Datatec์ฌ, SEFRAM/ DAS60์ผ๋ก 6์ฑ๋, ์ ๋ ฅ๋ถ์ํจ์ 400Hz์ด์, 14๋นํธ resolution,
1Ms/s sampling rate, 100kHz bandwidth ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ DC, AC+DC RMS voltage measurement์ ํ ์ ์๋
๋ ์ฝ๋๋ฅผ ์ฌ์ฉํ์๋ค. ์ธก์ ๋ ๊ฒฐ๊ณผ์ ์๋ฃ๋ฅผ ๋ณผ ์ ์๋๋ก ์ ๊ณต๋ Seframviewer๋ฅผ ์ด์ฉํ์ฌ, ์ํ๋ ๋ฐ์ดํฐ๋ฅผ ์ป์ ์ ์์ต๋๋ค. ์ธก์ ์๋ฃ์
๊ฒฐ๊ณผ ๊ฐ์ ๋์ค์ ๋ฅ ์ต๋๊ฐ์ ์ป๊ธฐ ์ํ์ฌ ๋ฐ์ดํฐ ํ๋ ์ํ๋ง ์จ์ 100ฮผS๋ก ๋ฐ์ดํฐ๋ฅผ ๊ณ์ธกํ์๋ค. 1์ด์ 10,000ํฌ์ธํธ์ ์๋ฃ๊ฐ ๊ณ์ธก๋๋ค. 1๋ถ์ด๋ฉด
60๋ง ํฌ์ธํธ๊ฐ ๋๋ค. ์ฃผํ์๋ก ํํํ๋ฉด 10kHz์ด๋ค. 6์๊ฐ ๋์์ ๋์ค์ ๋ฅ ์๋ฃ๋ฅผ ๋ถ์ํ๊ธฐ ์ํ์ฌ 1๋ถ์ ํ๋์ ์๋ฃ๋ฅผ ์ป์ ์ ์๋๋ก 60๋ง
ํฌ์ธํธ์ ์ ํธ ์ค ๊ฐ์ฅ ํฐ ๋์ค์ ๋ฅ ์ต๋๊ฐ์ ๊ทธ๋ํ์์ ๋ํ๋ด์๋ค.
2.4.2 ์ดํ์ ์นด๋ฉ๋ผ
ํ๋ฉด์ ๋ฐฉ์ ์ ์จ๋๋ฅผ ์ธก์ ํ๊ธฐ ์ํ์ฌ, ์ดํ์ ์นด๋ฉ๋ผ(Thermo Imager)๋ฅผ ์ฌ์ฉํ์๋ค. ์ฌ์ฉ๋ ๋ชจ๋ธ์ TI-45FT-20์ด๊ณ , ์ ์์ฌ๋ FLUKE์ด๋ค.
์ฌ์ฉ์จ๋๋ฒ์๋ -20~600โ์ด๋ฉฐ, ์จ๋ ๋ถํด๋ฅ์ 0.1โ์ด๋ค. ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ์จ๋ ์ ํ๋๋ ยฑ2โ์ด๋ฉฐ, ์ดํ์ ์นด๋ฉ๋ผ์ ํ์ 1280*1024 ํ์๋ฅผ ๊ฐ๋
์์คํ
์ด๋ค. ์ดํ์ ์นด๋ฉ๋ผ๋ 1๋ถ์ 1ํ ์ธก์ ์จ๋์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ์ด์ฉํ์๋ค. ์ดํ์ ์นด๋ฉ๋ผ๋ Smart View 3.14 ๋ฒ์ ์ํํธ์จ์ด๋ฅผ ํตํ์ฌ ์จ๋๋ฅผ
์ฒดํฌํ๊ฒ ๋ฉ๋๋ค.
2.4.3 ์์์ดฌ์ ๋ฐ ์นจ์์ค๋ ์ธก์
์์์ดฌ์์ Sony HDR-CX240E HD Flash Camcorder๋ฅผ ์ด์ฉํ์ฌ ์ดฌ์ํ์๊ณ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ์นจ์๋ ์ธก์ ์ ์ํด OHAUS์ฌ, Adventurer๋ฅผ
์ด์ฉํ์ฌ ์์ซ์ 4์๋ฆฌ๊น์ง ์ธก์ ํ ์ ์๋ ์ ์์ฒ์นญ์ ์ด์ฉํ์๋ค.
3. ๊ฒฐ๊ณผ ๋ฐ ๊ฒํ ๊ณ ์ฐฐ
3.1 HVDC Tracking and Erosion
3.1.1 HVDC ์ ๊ทน์ฑ๊ณผ ๋ถ๊ทน์ฑ ๋์ค์ ๋ฅ ์ต๋๊ฐ
1. ์ ๊ทน์ฑ(Positive Polarity)
๊ทธ๋ฆผ. 2์์๋ ์ ๊ทน์ฑ DC์คํ๊ฒฐ๊ณผ ๋์ค์ ๋ฅ ๋ฐ ํ๋ฉด์จ๋์ ์ธก์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๋ํ๋ด์๋ค. ๊ทธ๋ฆผ. 2์์ 325๋ถ ๋์ (5์๊ฐ 25๋ถ ์ 60mA/2s ์ง์๋ ํธ๋ํน ์คํ ๊ฒฐ๊ณผ) ๊ณ์ธก๋ ๋์ค์ ๋ฅ ์๋ฃ๋ฅผ 1๋ถ ๋์์ ๋์ค์ ๋ฅ ์ต๋๊ฐ์ 325๋ถ ๋์
325๊ฐ ํฌ์ธํธ ์ ์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ํ๋ฉด ์จ๋์ ํจ๊ป ๋ํ๋ด์๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 2. ์ค๋ฆฌ์ฝ/๋๋
ธ์ค๋ฆฌ์นด ์ฝคํฌ์งํธ ๋์ค์ ๋ฅ (์ ๊ทน์ฑ)
Fig. 2. SiR/Nano silica composites leakage current(Positive)
๊ทธ๋ฆผ. 2์ ์ ๊ทน์ฑ DC์ ์์ ์ธ๊ฐ ํ 26๋ถ ๊น์ง๋ ์ ์์ฑ ์ํ์์ 27๋ถ์ ์ด๋ฅด๋ฌ ์ฒ์์ผ๋ก ์ค์์ก์ด ์๋ถ์ ๊ทน์ ์ฌ๊ณผ์ง๋ก๋ถํฐ ๋จ์ด์ง ๋ฌผ๋ฐฉ์ธ์ด ํ๋ถ์ ๊ทน์ผ๋ก
๋จ์ด์ง๋ ์ํ์ ์ด๋ฅด๋ ๋ค. ๋ฌผ๋ฐฉ์ธ์ด ๋จ์ด์ง ์งํ ๊ทธ๋ฆผ. 6(a)์ ์์์์ ๋ณด๋ ๋ฐ์ ๊ฐ์ด, ์กฐ๊ทธ๋งํ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ด ์์๋์๋ค. ๊ทธ ์์ ์์ 1๋ถ ๋์์ ํธ๋ํน ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ค ์ต๋๊ฐ์ด 17.71mA์ ๋ํ๋ด์๋ค. ์ผ๋ง
ํ ํ๋ถ์ ๊ทน ๋ง๋จ ๋ถ๊ทผ์์ ์ํฌ์ฑ์ ๋ฐฉ์ ์ด ์์๋์๋ค. ์ด์ ๊ฐ์ ๋์ค์ ๋ฅ์ ํฌ๊ธฐ๋ฅผ ์๊ฐ๋ณ๋ก ๋ํ๋ด๋ณผ ๋, ์ง์์ ์ผ๋ก ์ค์์ก์ ์ํ์ฌ ํ๋ฉด์ ์นจ์์ด
๋ฐ์ํ์๊ณ , ์์์ฑ์์ ์น์์ฑ์ผ๋ก ํ๋ฉด์ ์ค์์ก์ด ํ๋ฅด๋ ๊ธธ์ด ๋ฐ์ํ๊ฒ ๋์๋ค(9). ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ด ๋ฐ์ํ๊ธฐ ์ , ๊ทธ๋ฆผ. 2์ (1)์์ ๋ํ๋ธ ์ํ์์ ํ๋ฉด์ ์๋ถ์ ์ํ ์ ๋์ฑ์ ๋ฅ๋ก์ 1.58~2.27mA์ ๋์ค์ ๋ฅ, ๊ทธ๋ฆผ. 3(a)์์ ์ ๊ทน์ฑ +DC์ธ๊ฐ ์์์ผ๋ก๋ถํฐ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ด ์์๋๊ธฐ ์ 26๋ถ๊น์ง ๋์ค์ ๋ฅ ํฌ๊ธฐ๋ฅผ ๋ํ๋ด์๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋ ๊ทธ๋ฆผ. 3(b)์์ ์ค์์ก์ด ํ๋ถ์ ๊ทน์ผ๋ก ๋จ์ด์ง ๊ทธ ์๊ฐ๋ถํฐ(27๋ถ~57๋ถ) ์ง์์ ์ธ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ด ๋ฐ์ํ์๊ณ , ํธ๋ํน์ ์ํ ๋์ค์ ๋ฅ์ ํฌ๊ธฐ๋ 17.71~38.27mA์
๋์ค์ ๋ฅ ํฌ๊ธฐ๊ฐ ์ธ๊ฐ์ ์์ ์๊ฐ์ ๋ฐ๋ผ ๋์ค์ ๋ฅ์ ํฌ๊ธฐ๊ฐ ์ฆ๊ฐ๋๋ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๋ํ๋ด์๋ค(9). ๊ทธ์ ๊ฐ์ ์ํ๋ฅผ ๊ทธ๋ฆผ. 2์ (2)์์ ๋ณด์ฌ์ฃผ์๋ค. ๋๋ถ์ด, ์ํฌ๋ฐฉ์ ์ ๋ฐ์๋ ์ฃผ์ธ์ด์ ์ํ์ฌ ํ๋ฉด์จ๋๊ฐ ์ ์ฐจ๋ก ์ฆ๊ฐํ์ฌ ์ต๋ 366โ์ ์ด๋ฅด๋ ํ๋ฉด์จ๋ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๋ํ๋ด์๋ค(8). ๊ทธ๋์ ํ๋ฉด์์ ๋ฐ์๋ ๋ฐฉ์ ์์์ ๊ทธ๋ฆผ. 6(b) 55๋ถ ํ ์ํ์ ์์์ผ๋ก ๋ํ๋ด์๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 3. ์คํ์์์ผ๋ก๋ถํฐ ๋๊น์ง ์ ๊ทน์ฑ ๋์ค์ ๋ฅ ๊ฐ
Fig. 3. Positive leakage current maximum value from start to end of experiment
์ง์์ ์ธ ํธ๋ํน ํ์์ ์ํ์ฌ ๋ฐ์๋ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ ๊ฒฐ๊ณผ ํ๋ฉด์ ์ผ๋ถ์ ์ด์ ์ดํ๋ก ์ธํ ํ๋ฉด์นจ์๊ณผ ํ๋ถ์ ๊ทน์ผ๋ก๋ถํฐ ์๋ถ์ ๊ทน์ผ๋ก ์ง์์ ์ธ ์ด๋๋ฐฉ์ ๊ฒฐ๊ณผ ์๋ถ์ ๊ทน์ผ๋ก๋ถํฐ
์ค์์ก์ ํ๋ฆ์ ๊ฐ๋๋ก ํ๋ ์์ ํ๊ณก๊ณผ ๊ฐ์ ๋ฌผ๊ธธ์ด ํ์ฑ๋์๋ค. ๋๋ถ์ด ํ๋ถ์ ๊ทน ๋ถ๊ทผ์ ์นจ์์ํ๊ฐ ๋งค์ฐ ํฌ๊ฒ ์นจ์๋์ด ํํ๋ ์ํ์ ์์ญ์ด ํฌ๊ฒ
๋ฐ์๋์๋ค. ์ดํ 151๋ถ๊น์ง๋ ์ํฌ์ฑ์ ๋ฐฉ์ ์ด ์์ ํ๊ฒ ์๋ฉธ๋ ์ํ๋ฅผ ๋ํ๋ด์๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋ ๊ทธ๋์ ๋์ค์ ๋ฅ์ ํฌ๊ธฐ๋ ๊ทธ๋ฆผ. 2์ (3)๊ณผ ๊ทธ๋ฆผ. 3(c)์์ ๋์ค์ ๋ฅํฌ๊ธฐ๋ฅผ ๋ํ๋ด์๋ค. ๊ทธ ์๊ฐ ๋ฒ์ ๋ด์์ ํ๋ฅด๋ ๋์ค์ ๋ฅ๋ 1.93~3.70mA์ ๋์ค์ ๋ฅ์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๋ํ๋ด์๋ค.
๊ทธ๋์ ํ๋ฉด์นจ์ ์ํ๋ฅผ ๊ทธ๋ฆผ. 6(c)์์ ํ๋ฉด์ ์์์ ๋ณผ ์๊ฐ ์์๋ค. ์ด๋ ์ค์์ก์ด ์นจ์์ ์ํด ํํ๋ Si์ C์ ์ฑ๋ถ์ ๊ฐ๋ ํํ๋ฌผ์ ์ค์์ก์ ํก์ตํ์ฌ ๋์ ์ฑ์ ์ ๋ฅ๊ฐ ํ๋ฅด๋
๊ฒฐ๊ณผ๋ก 1.93~3.70mA์ ๋์ค์ ๋ฅ๊ฐ ๋ฐ์ํ์๋ค. ์ด๋ ์ด๊ธฐํธ๋ํน ์คํ์์์์ ์ต์ค์ฑ์ ์ํ ์ ๋์ ๋ฅ 1.58~2.27 mA์๋ ๊ตฌ๋ณ๋๋ ์ ๋ฅ
ํฌ๊ธฐ๋ฅผ ๋ณผ ์๊ฐ ์๋ค. ์ด์ฒ๋ผ ๊ฐํ์ฑ์ ๋ฐฉ์ ์ ํํ๋ฌผ์ ํก์ต๋ ์ค์์ก์ด ์ฆ๊ฐํ๋ฉด ๋์ค์ ๋ฅ๊ฐ ์๊ฐ์ ์ผ๋ก ์ฆ๊ฐ๋์ด ์ฃผ์ธ์ด์ ๋ฐ์์ผ๋ก ํก์ต๋ ์ค์์ก์ด ๊ฑด์กฐํ์ฌ์ง๊ณ
์ดํ ๊ฑด์กฐ๋(Dry Band Arc:DBA)๋ฐฉ์ ์ด ๋ฐ์๋์ด์ ธ ํ๋ฉด์ ์จ๋๊ฐ ๋งค์ฐ ๋์ ๊ณ ์จ์ ์ํ์ ์ด๋ฅด๊ณ ๊ทธ๋ก ์ธํ ํ๋ฉด์ ์ดํ๋ ๋์ฑ๋ ๊ฐ์ํ๊ฒ
๋๋ค(8,9). ๊ทธ ๊ฒฐ๊ณผ ํ๋ฉด์ ์นจ์์ ๋์ฑ๋ ๊ธธ์ด์ง๊ณ ๋ํ ๊น์ด์ ธ์ ํ๋ฉด์ ๋ฐฉ์ ์ ๋์ฑ๋ ๊ฒฉ๋ ฌํ๊ฒ ์งํํ๊ฒ ๋๋ค. ์ด์ ๊ฐ์ ๊ฐํ์ฑ์ ๋ฐฉ์ ์ ๋์ฑ๋ ๋น๋ฒํ๊ฒ
์งํ๋๊ณ ๊ทธ๋ก ์ธํ ๋์ค์ ๋ฅ์ ํฌ๊ธฐ๋ ๋์ฑ๋ ์ฆ๊ฐํ๊ฒ ๋๋ค. ์ ๊ทน์ฑ DC์ ์ธ๊ฐํ 312~232๋ถ๊น์ง์ ๋์ค์ ๋ฅ๋ ๊ทธ๋ฆผ. 2์ (4)์์ ๋ํ๋ด์๊ณ ๊ทธ ๊ฒฐ๊ณผ ๋์ค์ ๋ฅ์ ํฌ๊ธฐ์ ๋ณํ๋ฅผ ๊ทธ๋ฆผ. 3(d)์์ ๋ํ๋ด์๋ค. fail๋๊ธฐ ์ง์ ์ํ๋ฅผ ๋ณผ ๋ ๊ฐํ์ ์ธ ์ํฌ๋ฐฉ์ ์ ์๊ฐ์, ๋์ฑ๋ ์งง์์ง๊ณ ๊ฒฉ๋ ฌํด์ ธ์ ์ตํ ๋์ค์ ๋ฅ์ ํฌ๊ธฐ๊ฐ ์๊ฐ์ ์ผ๋ก 89mA์
์ด๋ฅด๋ฌ 2s๋์ ์ง์๋์ด fail์ ์ด๋ฅด๊ฒ ๋ ๊ฒ์ด๋ค.
2. ๋ถ๊ทน์ฑ(Negative Polarity)
๊ทธ๋ฆผ. 3์์๋ ๋ถ๊ทน์ฑ DC ์คํ๊ฒฐ๊ณผ ๋์ค์ ๋ฅ ๋ฐ ํ๋ฉด์จ๋์ ์ธก์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๋ํ๋ด์๋ค. ๋ถ๊ทน์ฑ์ DC ์ธ๊ฐ์ ์ โ3.5kV๋ฅผ ์ธ๊ฐํ์ฌ IEC 60587์ ๊ทผ๊ฑฐํ
๋์ค์ ๋ฅ ์ต๋๊ฐ 60mA/2s ์ง์๋์์ ๋ fail ๋๊ฒ ๋๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋ ๋ถ๊ทน์ฑ์ ๊ฒฝ์ฐ 6์๊ฐ์ ํต๊ณผ ํ์๋ค. ๊ทธ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ 1๋ถ ๋์์ ๋์ค์ ๋ฅ ์๋ฃ
์ค ์ต๋๊ฐ์ ์ ์ ํ์๊ณ , 6์๊ฐ(360๋ถ, 360ํฌ์ธํธ) ํธ๋ํน ์งํ๋ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ 360๊ฐ ๋์ค์ ๋ฅ ํฌ์ธํธ๋ก ๋ํ๋ด์๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 4์์๋ HVDC ๋ถ๊ทน์ฑ -3.5kV ์ธ๊ฐ์งํ๋ก๋ถํฐ ๋ถ๊ทน์ฑ ์ํฌ๋ฐฉ์ ์ด ๋ฐ์ํ๊ธฐ ์ ๊น์ง์ ๋์ค์ ๋ฅํฌ๊ธฐ๋ฅผ ๊ทธ๋ฆผ. 4์ (1)์์ ๋์ค์ ๋ฅํฌ๊ธฐ๋ฅผ ๋ํ๋ด์๋ค. ์ข๋ ์ธ์ธํ๊ฒ ์ ์์ฑ์ ์ํ ๋์ค์ ๋ฅํฌ๊ธฐ์ ๋ณํ๋ฅผ ๊ทธ๋ฆผ. 5(a)์์ ๋ํ๋ด์์ผ๋ฉฐ, ์ด๊ฒ์ ์ค์์ ์ํ ์ ๋ฅ๊ฐ ์๋ ์ ์์ฑ์ ์ํ ๊ฒ์ผ๋ก โ2.23~-3.47mA์ ํฌ๊ธฐ๋ฅผ ๋ํ๋ด์๋ค. ์ ๊ทน์ฑ์ ๊ฒฝ์ฐ ๋๊ฐ์ ์๊ฐ์ธ
27๋ถ์ ์ด๋ฅด๋ฌ์ ์ค์์ก์ด ํ๋ถ์ ๊ทน์ผ๋ก ๋จ์ด์ง ์๊ฐ์ผ๋ก๋ถํฐ ํ๋ฉด ๋ฐฉ์ ์ ๊ฐ์๋์๊ณ 27๋ถ ๊ทธ ์์ ์์ 1๋ถ ๋์ ๋์ค์ ๋ฅ์ ์ต๋๊ฐ์ด โ11.90 mA๋ฅผ
๋ํ๋ด์๋ค. ์ ๊ทน์ฑ DC 27๋ถ ์์ ์์ ๋ฐ์๋ ํ๋ฉด ๋ฐฉ์ ์ ๋ฐ์๋ ๋์ค์ ๋ฅ ํฌ๊ธฐ๋ 17.71mA์ ๊ธฐ๋กํ์๋ค. ์ ๊ทน์ฑ์ ์ด๊ธฐ๋ฐฉ์ ์ด ๋ถ๊ทน์ฑ์ ์ด๊ธฐ๋ฐฉ์ ์
๋นํ์ฌ ์ฝ๊ฐ ๋์ ๋์ค์ ๋ฅํฌ๊ธฐ์ ๊ฒฐ๊ณผ์ด๋ค. ๋ํ ์ ์์ฑ์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ก ๋ํ๋ ์ ๊ทน์ฑ DC ๋์ค์ ๋ฅ ํฌ๊ธฐ๋ 1.58~2.27mA์ด์๊ณ ๋ถ๊ทน์ฑ DC์ ๊ฒฝ์ฐ
์ ์์ฑ์์ ๋ํ๋ ๋์ค์ ๋ฅ ํฌ๊ธฐ๋ โ2.23~-3.47mA ์ด์๋ค. ๋ถ๊ทน์ฑ์ ๋์ค์ ๋ฅ ํฌ๊ธฐ๊ฐ ์ ๊ทน์ฑ๋ณด๋ค ์คํ๋ ค ํฐ ๊ฒฝ์ฐ๋ฅผ ํ์ธํ ์ ์์๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 4. SiR/Nano Silica ์ฝคํฌ์งํธ ๋์ค์ ๋ฅ ์ต๋๊ฐ
Fig. 4. SiR/Nano silica composites leakage current maximum value (Negative)
๊ทธ๋ฆผ. 5. ์คํ์์์ผ๋ก๋ถํฐ ๋๊น์ง ๋ถ๊ทน์ฑ ๋์ค์ ๋ฅ ์ต๋๊ฐ
Fig. 5. Negative leakage current maximum value from start to end of experiment
์ค์์ก์ด ํ๋ถ์ ๊ทน์ ๋จ์ด์ง๋ ์๊ฐ ํ๋ฉด์ ๋ฐฉ์ ์ด ๊ฐ์๋์๊ณ , ๊ทธ ๋ฒ์(27~71๋ถ)์ ๋์ค์ ๋ฅ ํฌ๊ธฐ๋ 11.90~105.92mA์ด์๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋ 71๋ถ์์
๊ธ๊ฒฉํ ์ ๋ฅ์ ์ฆ๊ฐ(105.92mA)๋ฅผ ๊ฐ์ ธ์์ง๋ง, ๋์ค์ ๋ฅ์ ์ฆ๊ฐํญ์ด ์์๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋ ์ ๊ทน์ฑ์ ๊ฒฝ์ฐ ์ฆ๊ฐ ํญ์ด ์๋์ ์ผ๋ก ํฐ ์ํ์ด๋ค. ์ด์๊ฐ์ด
๋ถ๊ทน์ฑ DC ๋์ค์ ๋ฅ์ ๊ฒฝ์ฐ ๊ทธ๋ฆผ. 4์ (2)์์ ๋ํ๋ด์๊ณ ๋๋ถ์ด ํ๋ฉด ์จ๋์ญ์ ๋์ค์ ๋ฅ์ ํฌ๊ธฐ๊ฐ ์ฆ๊ฐํจ์ ๋ฐ๋ผ ์จ๋๊ฐ ์ฆ๊ฐ๋์ด ํธ๋ํน ํ๋ฉด์ ์นจ์์ ๊ฐ์ํ์์ผฐ๋ค. ๊ทธ๋ฆผ. 5(b)์์๋ ๊ตฌ์ฒด์ ์ผ๋ก 27๋ถ~71๋ถ๊น์ง ๋์ค์ ๋ฅ ํฌ๊ธฐ์ ๋ณํ๋ฅผ ๋ํ๋ด์๋ค. ํ๋ฉด ๊ฑด์กฐ๋ ์ํฌ ๋ฐฉ์ ์ ์์์ ๊ทธ๋ฆผ. 7(b)์์๋ ํธ๋ํน ์ธ๊ฐ์ ์ 44๋ถ ํ ๋ฐฉ์ ์ํ๋ฅผ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ 71๋ถ์์ ๊ฐ์ฅ ๊ฐ๋ ฅํ๊ฒ ํ๋ฉด ๋ฐฉ์ ๋ ๋์ค์ ๋ฅ์ ํฌ๊ธฐ๋ฅผ ๋ํ๋ธ ์์ ์ ์์์ ๋ํ๋ด์๋ค. ์ดํ
๊ฐํ์ ์ธ ๋์ค์ ๋ฅ์ ํฌ๊ธฐ๊ฐ 78๋ถ(-49.09mA), 107๋ถ (-44.7mA), 222๋ถ(-50.09mA) ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ 355๋ถ(-56.02mA)๋ก์
๋งค์ฐ ๋น ๋ฅธ ์๊ฐ์ ๋ฐฉ์ ์ ์ํ ๋์ค์ ๋ฅ๋ฅผ ๋ํ๋ด์๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋ ๋ถ๊ทน์ฑ DC๋ฅผ ์ธ๊ฐํ 72๋ถ~360๋ถ๊น์ง์ ๊ฒฝ์ฐ, ์ ๋ฐ์ ์ผ๋ก ์ต์ 1.58mA~ ์ต๋
5.58mA ๋ฒ์์ ๋์ค์ ๋ฅ๋ฅผ ๋ํ๋ด์๋ค.
์ด์๊ฐ์ ์ด์ ๋ ํธ๋ํน ์นจ์์ ์ํด ํํ๋ ๋ฌผ์ง์ ์ฑ๋ถ์ Si์ C๋ก ๊ตฌ์ฑ๋์์ผ๋ฉฐ(8), ์ค์์ก์ด 0.3ml/min ์ง์์ ์ผ๋ก ํ๋ฅด๊ฒ ๋์ด ์ ๋์ฑ์ ์ํ ๋์ค์ ๋ฅ๊ฐ ํ๋ฅด๊ฒ ๋๋ฉฐ(9), ๋๋ถ๋ถ ์๋ถ์ ๊ทน์ผ๋ก ํ๋ฌ๋์จ ์ค์์ก์ด ๋ชจ๋ ํ๋ถ์ ๊ทน์ผ๋ก ๋จ์ด์ง์ง ๋ชปํ๊ณ ์ ๊ทน ๋ฐ์ผ๋ก ํ๋ฌ๋ฒ๋ฆฐ ์ํฉ์์ ์ ์ ์์๋ค. ๋ํ HV ์ ๊ทน ๊ทผ์ฒ์ ๋ช
ํํ
์ ๊ทน -์ค์ผ ๋ฌผ์ง ์ธํฐํ์ด์ค๊ฐ ์๊ณ ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ์ ์ง๋ ์ ๊ทน ๊ทผ์ฒ์์ ์ด ์ธํฐํ์ด์ค๋ ๊ฐํ์ ์
๋๋ค. ๊ฑด์กฐํ ๋ฐด๋์ํฌ์ ์ํ ๊ฐ๋ ฌํ ๊ฐ์ด์ ์ ์ง๋ ์ ๊ทน ๊ทผ์ฒ์
์ค์ผ ๋ฌผ์ง์ ์ฆ๋ฐ์ํต๋๋ค(7).
์ ๊ทน์ฑ์ ๋นํ์ฌ ๋ถ๊ทน์ฑ์ ๊ฒฝ์ฐ ๋น๋์๊ฐ ๋งค์ฐ ๋ฎ๊ณ , ๋ฐฉ์ ์ ์ง์์๊ฐ๋ ์งง์ ๊ฒฐ๊ณผ์ด๋ค ๋ํ ์นจ์์ ๋ฒ์๋ ์ ๊ทน์ฑ์๋นํ์ฌ ์ข์ ์์ญ์ ์๋ค(7). ๊ทธ๋ฆผ. 5(c)(d)์์ ๋์ค์ ๋ฅํฌ๊ธฐ์ ๋ณํ๋ฅผ ๋ํ๋ธ ๊ฒ์ด๋ค.
Meyer et al(10)์ ์ฐ๊ตฌ ๊ฒฐ๊ณผ๋ ์ค๋ฆฌ์ฝ ๊ณ ๋ฌด ์ํ์ ํ๋ฉด ์จ๋์ ์นจ์ ๋ ์ง๋ ์ฌ์ด์ ์๊ด๊ด๊ณ๋ฅผ ๋ณด์ฌ ์ฃผ์๋ค. ์ ๊ทน์ฑDC์ ๋ํ ๋์ค ์ ๋ฅ๋ ๋ถ๊ทน์ฑ DC์ ๋นํด ๋
๋์ ์ ๋ฅ ๊ฐ์ ๋ณด์๋ค. ์ฆ๊ฐ ๋ ๋์ค ์ ๋ฅ๋ ๋ ๋์ ํ๋ฉด ๊ฐ์ด ๋ฐ ๊ทธ์ ๋ฐ๋ฅธ ๋์ผํ ํ๋ฉด ํ๋กํ์ผ์ ๋ํ๋ณด๋ค ๋์ ์จ๋๋ฅผ ์ด๋ํ ๊ฒ์ด๋ค(7).
3.1.2 Surface Discharge and Erosion
1. HVDC ์ ๊ทน์ฑ
๊ทธ๋ฆผ. 6~๊ทธ๋ฆผ. 7์์๋ ์ ๊ทน์ฑ DC(+3.5kV)์ ๋ถ๊ทน์ฑ DC(-3.5 kV)์ ์ธ๊ฐํ SiR/nano silica composites์ ํธ๋ํน์ ์ํด ์นจ์ ์ดํ๋
๊ณผ์ ์ ์์์ผ๋ก ๋ํ๋ธ ๊ฒ์ด๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 6์์๋ ์ค์์ก 0.3ml/min, ์ ๊ทน์ฑ DC(3.5kV)์ ์ธ๊ฐํ์ฌ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ ์คํ์ ์ค์ํ์๋ค. ๊ทธ๋ฆผ. 6(a), ํธ๋ํน ์คํ 27๋ถ ์ธ๊ฐ ํ ์ฒ์์ผ๋ก ์๋ถ์ ๊ทน์ผ๋ก๋ถํฐ ์ค์์ก์ด ํ๋ฌ ํ๋ถ์ ๊ทน์ ๋๋ฌํ๋ ์๊ฐ ๋ฎ์ ๋ ๋ฒจ์ ๋ฐฉ์ ์ด ์์๋์๋ค. ๊ทธ๋ฆผ. 6(b), 28๋ถํ 55๋ถ์ ํ๋ฉด์ ๋ฐฉ์ ์ด ๋์ฑ ๊ฒฉ๋ ฌํ๊ฒ ์งํํ์์ผ๋ฉฐ, ๋์ค์ ๋ฅ 39.20mA๋ฅผ ๋ํ๋ด์๋ค. ๊ทธ๋ฆผ. 6(c) ์ธ๊ฐ์ ์ 60๋ถ ํ, ๊ฒฉ๋ ฌํ ํธ๋ํน ์นจ์์ผ๋ก ํํ๋ ํ์ ์ ์ค์์ก์ด ํ๋ฅด๋ ๊ธธ์ด ํ์ฑ๋์๊ณ , ํ๋ถ์์ ์๋ถ๋ก ์นจ์์ด ์งํ๋๋ ์ํ์ด๋ฉฐ, ์นจ์๋์
๋์ ์ผ๋ก ์ค์์ก์ด ํก์ตํ๊ณ ์๊ธฐ ๋๋ฌธ์ ๋์ ์ฑ์ ๋์ค์ ๋ฅ๋ง ํ๋ฅด๋ ์ํ์ด๋ค. ์ด๋ฐ ์ํ์ ๋์ค์ ๋ฅ๋ 1.93~3.7mA์ ๋์ค์ ๋ฅ๋ฅผ ๋ํ๋ด์๋ค. ์ด์ฒ๋ผ
๊ฐํ์ ์ผ๋ก ํธ๋ํน ๋ฐฉ์ ์ด ๋ฐ์ํ๊ณ ๋์ ๋ ํํ๋ฌผ์ด ํก์ต์ ๊ฐ์ ธ์ค๋ ๋ฐ๋ณต์ ์ธ ๊ณผ์ ์ด ์ด๋ฃจ์ด์ง ์ํ์ด๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 6. ์ ๊ทน์ฑ DC(3.5kV), SiR/nano silica composite์ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์ ์์ (a)27๋ถ, (b)55๋ถ, (c)60๋ถ,
(d)320๋ถ
Fig. 6. Tracking and erosion imaging of positive DC (3.5 kV), SiR/nano silica composite
2. HVDC ๋ถ๊ทน์ฑ
๊ทธ๋ฆผ. 7์์๋ ์ ๊ทน์ฑ์ ๊ฒฝ์ฐ์ ๋ง์ฐฌ๊ฐ์ง๋ก DC(-3.5kV)์ ์ธ๊ฐํ์ฌ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์คํ์ ์ค์ํ์๋ค. ๊ทธ ๊ฒฐ๊ณผ ์ธ๊ฐ์๊ฐ์ ๋ฐ๋ฅธ ๋ถ๊ทน์ฑ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์
๊ดํ ์์์ ๋ํ๋ด์๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 7(a)์์๋ ์ ๊ทน์ฑ์ ๊ฒฝ์ฐ ๊ฐ์ ์๊ฐ(27๋ถ)์ ์ค์์ก์ด ์๋ถ์ ๊ทน์ผ๋ก๋ถํฐ ํ๋ถ์ ๊ทน์ ๋๋ฌ ํ์ ๋, ๋ฐฉ์ ์ด ๊ฐ์๋์๋ค. ๊ทธ๋ฆผ. 7(b), ์ธ๊ฐ์ ์ 44๋ถ ํ, ๋ถ๊ทน์ฑ ํธ๋ํน ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ผ๋ก (โ)25.76mA์ ๋์ค์ ๋ฅ๋ฅผ ๋ํ๋ด์๊ณ , ๊ทธ๋ฆผ. 7(c)์์๋ ํธ๋ํน ๋์ค์ ๋ฅ ํฌ๊ธฐ๊ฐ ๊ฐ์ฅ ํฐ 105.92mA์ ํธ๋ํน ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ ๊ฒฉ๋ ฌํ ๋ฐฉ์ ์ ์ผ์ผ์ผฐ๊ณ , ๊ทธ ๋์ ํ๋ฉด์จ๋๋ 366โ ๋ณด๋ค ๋์ ํ๋ฉด์จ๋๋ฅผ
๋ํ๋ด์๋ค. ํ๋ฉด์จ๋๊ฐ ๋๊ฒ ๋๋ฉด ์ค๋ฆฌ์ฝ ๋๋
ธ์ฝคํฌ์งํธ์ ์ด์ ์ดํ์ ์ ๊ธฐ์ ๋ฐฉ์ ์ด ๊ฐ๋ ฅํ๊ฒ ์ง์ ํ์ฌ ๋์ฑ ๋ ํฐ ์นจ์์ ๊ฐ์ ธ์ค๋๋ฐ ์ํฅ์ ์ฃผ๊ณ ์๋ค(8,9). 71๋ถ ์ดํ ๊ทธ๋ฆผ. 7(d)์ ์์์ ํ๋ถ์ ๊ทน์์ ์๋ถ์ ๊ทน์ผ๋ก ํธ๋ํน ์นจ์์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ก์ ์๋ถ์ ๊ทน์ผ๋ก๋ถํฐ ํ๋ฌ๋ด๋ ค์จ ์ค์์ก์ด ํ๋ถ์ ๊ทน์ผ๋ก ํ๋ฅด์ง ๋ชปํ๊ณ ์๋ถ์ ๊ทน์์ ์ธ๋ถ ๋จ์ด์ง๋
๊ฒฝ์ฐ๋ก ๊ฐํ์ ์ธ ๋ฐฉ์ ์ ๋ฐ์์ด ์งํ๋์ด 360๋ถ์ ์ด๋ฅด๋ ๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 7. ๋ถ๊ทน์ฑ DC(-3.5kV), SiR/nano silica composite์ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์ ์์ (a)27๋ถ, (b)44๋ถ, (c)71๋ถ,
(d)220๋ถ
Fig. 7. Tracking and erosion imaging of negative DC (-3.5 kV), SiR/nano silica composite
(a)27min, (b)44min, (c)71min, (d)220min
3.1.3 Tracking Erosion Weight
๊ทธ๋ฆผ. 8, ํ 1์์๋ HVDC ์ ๊ทน์ฑ(3.5kV), ๋ถ๊ทน์ฑ(-3.kV)์ SiR/Nano Silica_25wt% Composites์ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์คํ๊ฒฐ๊ณผ IEC
60587์ ๊ทผ๊ฑฐํ์ฌ fail์ ๊ฒฝ์ฐ 60mA/2s์ผ ๋์ด๋ค. ๊ทธ๋ฆผ. 8(a)(b)์ ์ํ 3๊ฐ๋ฅผ ๋์์ ์ธก์ ํ ์ ์๋ ์ธก์ ์์คํ
์ ๊ฐ๋ฐํ์๊ณ , ์ ๊ทน์ฑ ๋ฐ ๋ถ๊ทน์ฑ ํธ๋ํน์คํ ๊ฒฐ๊ณผ ์นจ์์ ์ํ ์นจ์์ค๋์ ๋ํ๋ด์๋ค. ๋ณธ ๋
ผ๋ฌธ์์๋
๋์ค์ ๋ฅ ๋ฐ ํธ๋ํน ์นจ์์์์ ์ํ B์ ๊ฒฝ์ฐ๋ก์ ๋ํ๋ด์๊ณ , ์ ๊ทน์ฑ ํธ๋ํน ์นจ์ ์ค๋์ด ๋ถ๊ทน์ฑ์ ์นจ์์ค๋๋ณด๋ค ๊ฐํนํ ์กฐ๊ฑด์ ๊ฒฐ๊ณผ์์ ์ ์ ์์๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 8. ํธ๋ํน ์คํ ์ ํ ์ํ (b) ์ ๊ทน์ฑ (c) ๋ถ๊ทน์ฑ)
Fig. 8. Sample before and after tracking experiment (b) Positive (c) Negative
ํ 1. ์ ๊ทน์ฑ ๋ฐ ๋ถ๊ทน์ฑ ํธ๋ํน ํ ์นจ์๋
Table 1. Erosion weight of positive and negative polarity after tracking
SiR/Nano Silica Composites_25wt%
|
Positive
|
Negative
|
Sample A
|
1.185g
|
1.185g
|
Sample B
|
2.069g
|
0.286g
|
Sample C
|
1.368g
|
0.870g
|
3.1.4 HVDC ์ ๊ทน์ฑ๊ณผ ๋ถ๊ทน์ฑ ์ ์์ธ๊ฐ์ ๋ฐ๋ฅธ ๋์ค ์ ๋ฅ ํน์ฑ
๊ทธ๋ฆผ. 9์์๋ SiR/Nano Silica_25wt% Composites์ ๋ํ HVDC ์ ๊ทน์ฑ๊ณผ ๋ถ๊ทน์ฑ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ ๋ํ ์คํ๊ฒฐ๊ณผ ์ ๊ทน์ฑ๊ณผ ๋ถ๊ทน์ฑ์
๋น๊ต๊ฒํ ๋ฅผ ์ค์ํ์๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 9. ๋์ค์ ๋ฅ ํฌ๊ธฐ์ ์ ๋ฅ ํ์ค ์
Fig. 9. Leakage Current Amplitude and Count
์ ๊ทน์ฑ์ 324๋ถ ๋์ ๊ณ์ธก๋ ๋์ค์ ๋ฅ์ ํฌ๊ธฐ๋ณ๋ก ๋ถ๋ฅํ์๋ค. ๊ทธ ๊ฒฐ๊ณผ 2mA์ดํ์ ์ ๋ฅ๋ ์ด๊ธฐ์ํ์ ์ ๋์ฑ์ด ์๋ ๋์ค์ ๋ฅ๋ก์ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ ์ํฅ์
์ฃผ์ง ๋ชปํ ๊ฒฝ์ฐ์ด๋ค. ์ ์ฒด ๋์ค์ ๋ฅ 324๋ถ ๋์ ๊ณ์ธก๋ 324 ๋์ค์ ๋ฅ ํ์ค ์ค์์ 82๊ฐ์ ๋์ค์ ๋ฅ ํ์ค๊ฐ ๊ณ์ธก ๋์๋ค. ์ ์ฒด ๋์ค์ ๋ฅ ํ์ค ์ค
์ฐจ์งํ๋ ๋น์จ์ด 22.78%์ ๋ํ๋ด์๊ณ , 2~10mA์ ๋ฒ์์ ์๋ 190๊ฐ ์ ๋ฅํ์ค๋ ์ ๋์ฑ ํ์ค๋ก์ ๋ฐฉ์ ์ด ์๊ฑฐ๋ ๊ฐํ์ ์ธ ๋ฐฉ์ ํ, ์นจ์์
์ํ ํํ๋ ํํ๋ฌผ ๋ด์ ์กด์ฌํ๋ ์ค์์ก์ ์ํ ์ ๋์ฑ ์ ๋ฅ๋ก์ ์ญ์ ํ๋ฉด์นจ์์ ์ํฅ์ ์ฃผ๋ ๋ณ์๊ฐ ์๋๋ค. ์ ๋ฅํ์ค๊ฐ ์ฐจ์งํ๋ ๋น์จ์ 52.78%์
๋ํ๋ด์๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋ 10mA์ด์์ ๋์ค์ ๋ฅ ํ์ค ๊ฒฝ์ฐ๋ 23.88%์ด์ง๋ง, ์ง์ ์ ์ผ๋ก ํธ๋ํน์ ์ํ ํ๋ฉด์นจ์์ ์ํฅ์ ์ฃผ๋ ๊ฑด์กฐ๋ ๋ฐฉ์ ๊ณผ ๊ฐ์ ํ๋ฉด
์ํฌ๋ฐฉ์ ์ผ๋ก ํ๋ฉด์นจ์์ ํฐ ์ํฅ์ ์ฃผ๋ ๋์ค์ ๋ฅ ํฌ๊ธฐ์ด๋ค. ์ ๊ทน์ฑ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ ์ฐจ์งํ๋ ๋์ค์ ๋ฅ ํ์ค ์๋ 86๊ฐ์ด๋ค. ์ฌ๊ธฐ์ ๋์ค์ ๋ฅํ์ค๋
์ํ๋ง์ด 100ฮผs๋ก์ 1์ด์ 10,000๊ฐ ๋์ค์ ๋ฅํ์ค๋ฅผ ๊ณ์ธกํ๊ฒ ๋๊ณ , 60์ด(1๋ถ) ๋์ 60๋ง๊ฐ ๋์ค์ ๋ฅ ํ์ค ์ค ๋ถ๋น 1๊ฐ์ ์ต๋๊ฐ์ ์ ์ ํ
๊ฒฐ๊ณผ์ ์๋ฃ๋ฅผ ๋ํ๋ธ ๊ฒ์ด๋ค.
ํ 2. ๊ทธ๋ฆผ. 9 ๋์ค์ ๋ฅ ํฌ๊ธฐ์ ๋ถ๋ฅ
Table 2. Classification of leakage current amplitude
Leakage current level
|
Positive current number(%)
|
Negative current number(%)
|
2mA ์ดํ
|
22.78
|
5.27
|
2~10mA
|
52.78
|
80.80
|
10mA ์ด์
|
23.88
|
13.33
|
๋ถ๊ทน์ฑ์ ๊ฒฝ์ฐ 360๋ถ ๋์ ๊ณ์ธก๋ ๋์ค์ ๋ฅ ์ต๋๊ฐ ํ์ค ์๋ 360๊ฐ์ ์๋ฃ๋ฅผ ์ ์ ํ์๋ค. 2mA์ดํ์ ๊ฒฝ์ฐ ์ ์ฒด 360๊ฐ ๋์ค์ ๋ฅ ํ์ค ์ค 19๊ฐ
์ ๋ฅํ์ค(5.27%), 2~10mA์ ๋ฒ์์ ์๋ ๋์ค์ ๋ฅํ์ค ๋ฐ์์ 290๊ฐ(80.80%), 10mA ์ด์์ ๊ฒฝ์ฐ๋ 48๊ฐ ์ ๋ฅํ์ค(13.33%)๋ก์
ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ ์ํฅ์ ์ฃผ๋ ์ ๋ฅ์ด๋ค.
ํ 3์์๋ ์ค์ ๋ก ํธ๋ํน ๋ฐ ํ๋ฉด์นจ์์ ํฌ๊ฒ ์ํฅ์ ์ฃผ๋ ๋์ค์ ๋ฅ ํ์คํฌ๊ธฐ๋ก์, 10mA ์ด์์ ์ ๊ทน์ฑ 86๊ฐ ์ ๋ฅํ์ค์์ ๋ถ๊ทน์ฑ 48๊ฐ ์ ๋ฅํ์ค ์์
๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ์์ธํ๊ฒ ๋ถ๋ฅํ์๋ค. ๊ทธ ๊ฒฐ๊ณผ ์ ๊ทน์ฑ์ ๊ฒฝ์ฐ 20-30mA์ ์ ๋ฅํฌ๊ธฐ๋ฅผ ๊ฐ๋ ์ํฌํ ์ ๋ฅํฌ๊ธฐ๋ 25.58%, ๋ถ๊ทน์ฑ์ ๊ฒฝ์ฐ 45.83%, 30-40mA์ ๋ฅํ์ค๋ฅผ
๊ฐ๋ ์ ๊ทน์ฑ์ ๊ฒฝ์ฐ 41.86% ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ๋ถ๊ทน์ฑ์ ๊ฒฝ์ฐ 14.58%์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๊ฐ์ ธ์๋ค. ๋๋ถ์ด 40-50mA์ ๋์ค์ ๋ฅ ํ์ค๋ฅผ ๊ฐ๋ ์ ๊ทน์ฑ์ 18.6%
๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ๋ถ๊ทน์ฑ์ ๊ฒฝ์ฐ 4.16%์ ๋ํ๋ด์๋ค. ์ด์ฒ๋ผ 1๋ถ ๋์ 60๋ง๊ฐ ์ ๋ฅํ์ค ์ค ์ต๋๊ฐ 1๊ฐ๋ฅผ ์ ํํ ๊ฒฝ์ฐ๋ก์ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ ๊ฒฝ์ฐ ๊ฐํ์ ์ธ
ํฐ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ ๋ฐ์์ผ๋ก ํ๋ฉด์จ๋๊ฐ ๋งค์ฐ ๋๊ณ ๊ฐํ ์นจ์์ ์ ๋ฐํ๊ฒ ํ๋ ๋์ค์ ๋ฅ๊ฐ ์๋์ ์ผ๋ก ์ ๊ทน์ฑ์์ ๋ง์ด ๋ฐ์ํจ์ ์ ์ ์์๋ค.
ํ 3. ๊ทธ๋ฆผ. 9์ 10mA ์ด์ ๋์ค์ ๋ฅ ์์ธ๋ถ๋ฅ
Table 3. Leakage current classification of more than 10 mA in Fig. 9
Leakage Current [mA]
|
Positive
|
Negative
|
10-20mA
|
8.13%
|
10.13%
|
20-30mA
|
25.58%
|
45.83%
|
30-40mA
|
41.86%
|
14.58%
|
40-50mA
|
18.6%
|
4.16%
|
50-60mA
|
2.32%
|
4.16%
|
60 mA ์ด์
|
3.48%
|
2.08%
|
4. ๊ฒฐ ๋ก
๋ณธ ๋
ผ๋ฌธ์์๋ HVDC ์ด๊ณ ์์ฉ ์ ์์ ์ ์ฐ์์ฌ๋ฅผ ๊ฐ๋ฐ ํ๊ธฐ์ํ์ฌ Liquid Silicone Rubber/Nano Silica Composites_25wt%์
ํธ๋ํน์คํ์ฉ ์ํ์ ์ ์กฐํ์๋ค. ๊ฐ๋ฐ๋ IPT(Inclined Plate Tracking and Erosion Test) ์ธก์ ์์คํ
์์ ์ ๊ทน์ฑ ๋ฐ
๋ถ๊ทน์ฑ ์คํ์ ๊ฐ๊ฐ 3๊ฐ๋ฅผ ๋์์ DC ยฑ3.5kV๋ฅผ ์ธ๊ฐํ์๋ค. ์คํ๋ฐฉ๋ฒ ๋ฐ ์ฑ๊ณต๊ณผ ์คํจ ๊ธฐ์ค์ 60mA/2s์ ๊ธฐ์ค์ผ๋ก ์ค์ ํ IEC 60587์
๊ทผ๊ฑฐํ์ฌ, ์คํ์ ์ค์ํ์๋ค. ๊ทธ ๊ฒฐ๊ณผ ๋ค์๊ณผ ๊ฐ์ ๊ฒฐ๋ก ์ ์ป์๋ค.
์ฒซ์งธ, DC ์ ๊ทน์ฑ๊ณผ ๋ถ๊ทน์ฑ์ IPT ๋์ค์ ๋ฅ ๋ฐ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ํ๋ฉด ์ฒ๋ฆฌ๋ ๋๋
ธ์ค๋ฆฌ์นด๋ฅผ ์ก์์ค๋ฆฌ์ฝ์ 25wt%์ ์ถฉ์ง๋ถ์ฐ์์ผ ์ ์กฐ๋ ์ฝคํฌ์งํธ์ ์ ๊ทน์ฑ๊ณผ
๋ถ๊ทน์ฑ ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์คํ๊ฒฐ๊ณผ ๋ถ๊ทน์ฑ์ด ์ ๊ทน์ฑ๋ณด๋ค ์ ์ฐ์ฑ๋ฅ์ด ์ฐ์ํจ์ ์ ์ ์์๋ค.
๋์งธ, ๋์ค์ ๋ฅํฌ๊ธฐ ์ค ํธ๋ํน ํ๋ฉด์นจ์์ ํฌ๊ฒ ์ํฅ์ ์ฃผ์ง ๋ชปํ 2~10mA ์ ๋ฅํ์ค ๋ฐ์ ๋น๋ ์ ๊ทน์ฑ, ๋ถ๊ทน์ฑ์ ๊ฒฝ์ฐ 52.78%, 80.80%
์ด์๋ค. ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ํธ๋ํน ๋ฐ ํ๋ฉด์นจ์์ ํฌ๊ฒ ์ํฅ์ ์ฃผ๋ 10mA์ด์์ ๋์ค์ ๋ฅํ์ค์์ ๋ฐ์๋๋ ๊ทน์ฑ ๊ฒฐ๊ณผ ์ ๊ทน์ฑ, ๋ถ๊ทน์ฑ์ ๊ฒฝ์ฐ 23.88%, 13.33%์ด๋ค.
๋ํ 10mA ์ด์์ ๋์ค์ ๋ฅ์์ DBA์ ๊ฒฉ๋ ฌํ ํ๋ฉด๋ฐฉ์ ์ ๋ฐ์๋ ๋์ค์ ๋ฅ์ ๊ฒฝ์ฐ 30~50mA์ ๊ทน์ฑ๋ณ ๋์ค์ ๋ฅ๋ฐ์์ ์ ๊ทน์ฑ์ ๊ฒฝ์ฐ 60.46%,
๋ถ๊ทน์ฑ์ ๊ฒฝ์ฐ 18.74%์ด๋ค. ์ด์ฒ๋ผ ์ ๊ทน์ฑ์ ๊ฒฝ์ฐ ์ ๋์ฑ ์ด์จ์ด ์ ๊ทนํ๋ฉด์ผ๋ก ์ด๋ํ์ฌ ์ ๋์ฑ์ ์ฆ๊ฐ์์ผ ๋์ค์ ๋ฅ์ ์ฆ๊ฐ๋ฅผ ๊ฐ์ ธ์๊ณ , ๋ถ๊ทน์ฑ์ ๊ฒฝ์ฐ
ํธ๋ํน ๋ฐ ์นจ์์ ๋ํ ์ ํญ์ฑ์ด ์ ๊ทน์ฑ์ ๋นํ์ฌ ๋์ฑ ํฌ๊ธฐ ๋๋ฌธ์ ๋์ค์ ๋ฅ ํฌ๊ธฐ๊ฐ ํฐ ์ ๋ฅํ์ค ์๊ฐ ์ ์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ก ์ฌ๋ฃ๋๋ค.
๊ฐ์ฌ์ ๊ธ
๋ณธ ์ฐ๊ตฌ๋ 2018๋
๋ ์ค๋ถ๋ํ๊ต ๊ต๋ด์ฐ๊ตฌ๊ณผ์ ์ง์์ ์ํ์ฌ ์ด๋ฃจ์ด์ง ์ฐ๊ตฌ๋ก์, ๊ด๊ณ๋ถ์ฒ์ ๊ฐ์ฌ๋๋ฆฝ๋๋ค.
References
Krivda Andrej, Schmidt Lars E., Kornmann Xavier, Ghorbani Hossein, Ghorbandaeipour
Ali, Eriksson Maria, Hillborg Henrik, 2009, Inclined-plane tracking and erosion test
according to the IEC 60587 Standard, IEEE Electrical Insulation Magazine, Vol. 25,
No. 6, pp. 14-22
Bruce G. P., Rowland S. M., Krivda A., 2010, Performance of Silicone Rubber in DC
Inclined Plane Tracking Tests, IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation,
Vol. 17, pp. 521-532
Moreno V. M., Gorur R. S., 1999, AC and DC performance of polymeric housing materials
for HV outdoor insulators, IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation,
Vol. 6, pp. 342-350
Meyer L. H., Jayaram S. H., Cherney E. A., 2004, Correlation of damage, dry band arcing
energy, and temperature in inclined plane testing of silicone rubber for outdoor insulation,
IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, Vol. 11, pp. 424-432
Sarathi R., Chandrasekar S., Yoshimura N., 2006, Investigation of Tracking Phenomena
in Outdoor Polymeric Insulation Material Under DC Voltages Using Wavelets, IEEE Trans.
Power Delivery, Vol. 21, pp. 515-517
Bruce G. P., Rowland S. M., Krivda A., 2010, Performance of Silicone Rubber in DC
Inclined Plane Tracking Tests, IEEE Trans. Dielectr. Electr. Insul., Vol. 17, pp.
521-532
Vas Joseph Vimal, Venkatesulu B., Joy Thomas M., February 2012, Tracking and Erosion
of Silicone Rubber Nano-composites under DC Voltages of both Polarities, IEEE Transactions
on Dielectrics and Electrical Insulation, Vol. 19, No. 1
Loganathan N., Muniraj C., Chandrasekar S., October 2014, Tracking and Erosion Resistance
Performance Investigation on Nano-sized SiO2 Filled Silicone Rubber for Outdoor Insulation
Applications, IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, Vol. 21,
No. 5
Rowland S. M., Bruce G. P., Liu Yuting, Krivda A., Schmidt L. E., April 2011, Use
of Image Analysis in DC Inclined Plane Tracking Tests of Nano and Micro Composites,
IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, Vol. 18, No. 2, pp. 365-374
Meyer L. H., Jayaram S. H., Cherney E. A., 2004, Correlation of Damage, Dry Band Arcing
Energy and Temperature in Inclined Plane Testing of Silicone Rubber for Outdoor Insulation,
IEEE Trans. Dielectr. Electr. Insul., Vol. 11, pp. 424-432
์ ์์๊ฐ
๋ฐ ์ฌ ์ค (Park Jae-Jun)
1985๋
๊ด์ด๋ํ๊ต ์ ๊ธฐ๊ณตํ๊ณผ ํ์ฌ
1987๋
๊ด์ด๋ํ๊ต ์ ๊ธฐ๊ณตํ๊ณผ ์์ฌ
1993๋
๊ด์ด๋ํ๊ต ์ ๊ธฐ๊ณตํ๊ณผ ๋ฐ์ฌ
1997๋
~ํ์ฌ ์ค๋ถ๋ํ๊ต ์ ๊ธฐ์ ์๊ณตํ๊ณผ ๊ต์
E-mail : jjpark@joongbu.ac.kr