์ค์์
(Won-Je Oh)
1
๋ฐ์ง์
(Su-Ji Park)
1
์ด์ฌํ
(Jea-Hyeong Lee)
โ iD
-
(School of Electronic and Electrical Engineering, Sungkyunkwan University, Korea.)
Copyright ยฉ The Korean Institute of Electrical Engineers(KIEE)
Key words
Shingled PV module, Metal grid, Electrode pattern, Simulation, Ag paste, Screen printing
1. ์ ๋ก
์๊ธ๋(shingled) ํ์๊ด ๋ชจ๋์ ํ์์ ์ง์ ๋ถํ , ์ ํฉ์ ํตํด ์ ์๋๋ ๊ณ ๋ฐ๋, ๊ณ ์ถ๋ ฅ ํ์๊ด ๋ชจ๋์ด๋ค(1). ์ด ๊ธฐ์ ์ ์ค๋ฆฌ์ฝ ํ์์ ์ง๋ฅผ ๋ ์ด์ ๋ฅผ ์ด์ฉํ์ฌ ๋ถํ ํ๊ณ , ๋ถํ ๋ ํ์์ ์ง๋ฅผ ์ ๋์ฑ ์ ์ฐฉ์ (Electrically Conductive Adhesive,
ECA)๋ก ์ ํฉํ์ฌ ์๊ธ๋ ์คํธ๋ง(string)์ผ๋ก ์ ์ํ๋ค(2). ์ด ์๊ธ๋ ์คํธ๋ง์ ์ง๋ณ๋ ฌ๋ก ์ฐ๊ฒฐํ์ฌ ํ์๊ด ๋ชจ๋๋ก ์ ์กฐํ ์ ์๋ค.
์๊ธ๋ ํ์๊ด ๋ชจ๋์ ์ฌ๋ฌ ์ด์ ์ ๊ฐ์ง๊ฒ ๋๋ค. ์ผ๋ฐ ํ์๊ด ๋ชจ๋์ ๊ฒฝ์ฐ, ํ์์ ์ง๋ฅผ ์ํธ ์ฐ๊ฒฐํ๊ธฐ ์ํด ๊ธ์ ๋ฆฌ๋ณธ(ribbon)์ ๋ฉ๋ํ๋ค. ์ด
๊ธ์ ๋ฆฌ๋ณธ์ ์
์ฌํ๋ ๋น์ ์ฐจ๋จํ๊ธฐ ๋๋ฌธ์ ์์ ์์ค์ด ๋ฐ์ํ๋ค. ์์ ์์ค ์ด์ธ์๋, ๋ฉ๋ ํ๋ ๊ณผ์ ์์ ๊ตญ๋ถ์ ์ธ ์ด๊ณผ ์๋ ฅ์ผ๋ก ์ธํด ํ์์ ์ง์
์คํธ๋ ์ค๋ฅผ ์ผ๊ธฐํ ์ ์์ผ๋ฉฐ, ์ด๋ก ์ธํ ๋ฆฌ๋ณธ์ ์์ถ๊ณผ ํฝ์ฐฝ์ผ๋ก ์ธํด ํ์์ ์ง๊ฐ ์์๋ ์ ์๋ค. ๋ํ ํ์์ ์ง๊ฐ ์ํธ ์ฐ๊ฒฐ๋ ๋ ์ ๊ธฐ์ ์ ์ฐ์ ์ํด
์ผ์ ํ ๊ฐ๊ฒฉ์ด ํ์ํ๋ฐ, ์ด ์์ญ์ ์ ๊ธฐ๋ฅผ ์์ฐํ์ง ์์ผ๋ฏ๋ก ํ์๊ด ๋ชจ๋์ ํจ์จ์ ๋ฎ์ถ๋ ์์ธ์ด ๋๋ค. ๋ฐ๋ฉด์ ์๊ธ๋ ๋ชจ๋์ ๋ถํ ๋ ํ์์ ์ง๋ฅผ ECA๋ก
์ ํฉํ ๊ธด ์คํธ๋ง์ผ๋ก ์ ์๋๋ค. ์ด ๋๋ฌธ์ ๊ธ์ ๋ฆฌ๋ณธ์ ์ํ ํ์์ ์ง์ ์์ ํน์ ์ํธ ์ฐ๊ฒฐ์ ํ์ํ ๊ฐ๊ฒฉ, ๊ธ์ ๋ฆฌ๋ณธ์ผ๋ก ์ธํ ์์ ๋ฑ์ด ์ต์ํ๋์ด
๊ณ ํจ์จ ๋ชจ๋ ์ ์กฐ๊ฐ ๊ฐ๋ฅํ๋ค(3).
์ด ๊ธฐ์ ์ ์ด์ฉํ ๋ชจ๋์ ์์ฉํ๋์ด ํ๋งค๋ ์ด๋ฃจ์ด์ง๊ณ ์๋ค. ํ์ง๋ง ๋ถํ , ์ ํฉ์ ์ํ ๊ณต์ ์ด ์ถ๊ฐ๋๋ฉฐ, ์ ๋์ฑ ์ ์ฐฉ์ ์ ์ฃผ์ฑ๋ถ์ด ์(Ag)์ผ๋ก ๋์ด์๊ธฐ
๋๋ฌธ์ ์ผ๋ฐ ํ์๊ด ๋ชจ๋ ์ ์กฐ ๋จ๊ฐ์ ๋นํด ์๊ธ๋ ๋ชจ๋์ด ์๋์ ์ผ๋ก ๋์ ์ค์ ์ด๋ค.
์๊ธ๋ ๋ชจ๋์ ํ์์ ์ง๋ฅผ ๋ถํ ๊ณผ ์ ํฉ์ ํตํด ๊ณ ์ถ๋ ฅ ๋ชจ๋ ์ ์์ด ๊ฐ๋ฅํ ๊ธฐ์ ์ด์ง๋ง ์ถ๊ฐ์ ์ธ ๊ณต์ ๊ณผ ECA ์ฌ๋ฃ ์ถ๊ฐ๋ก ๋ชจ๋ ๋จ๊ฐ๊ฐ ์ฆ๊ฐํ๊ฒ ๋๋ค.
๋ฐ๋ผ์ ๊ฒฝ์ ์ฑ์ด ๋์ ์๊ธ๋ ๋ชจ๋์ ์ ์ํ๊ธฐ ์ํด์๋ ๋จ๊ฐ ์ ๊ฐ์ด ํ์์ ์ด๋ค. ๋ณธ ๋
ผ๋ฌธ์์๋ ์๊ธ๋ ํ์๊ด ๋ชจ๋์ ์๊ฐ๋ฅผ ๋ฎ์ถ๊ธฐ ์ํด ํ์์ ์ง์ Ag
ํ์ด์คํธ์ ์ฌ์ฉ๋ ์ ๊ฐํ ์ ์๋ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ๋ฅผ ์ค๊ณํ์๋ค. ์๋ฎฌ๋ ์ด์
์ ํตํด Ag ํ์ด์คํธ์ ์ฌ์ฉ๋ ์ ๊ฐ๊ณผ ๋์์ ํ์์ ์ง์ ํจ์จ์ ๊ฐ์๋์ง ์๋
์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ๋ฅผ ์ค๊ณํ์๋ค. ๋ํ ์ด๋ฌํ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ๋ฅผ ๊ฐ๋ ํ์์ ์ง๋ฅผ ์คํฌ๋ฆฐ ์ธ์๋ฅผ ํตํด ์ ์กฐํ๊ณ , ์ผ๋ฐ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ ํ์์ ์ง์ ํน์ฑ์ ๋น๊ต ๋ถ์ํ์๋ค.
2. ์คํ๋ฐฉ๋ฒ
2.1 ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ ์ค๊ณ
๋ถํ ๋ฐ ์ ํฉ์ฉ ํ์์ ์ง๋ ์ผ๋ฐ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ ๋ค๋ฅด๊ฒ ์ค๊ณํด์ผ ํ๋ค. ํ์์ ์ง๋ฅผ ์ ํฉํ๊ธฐ ์ํด์๋ ๊ฐ์ ํญ์ ๊ฐ์ง ๋ถํ ํ์์ ์ง๊ฐ ํ์ํ๋ค. ์ด ๋๋ฌธ์
์ผ๋ฐ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ๋ฅผ ๊ฐ์ง ํ์์ ์ง๋ฅผ ๋ถํ ํ ๊ฒฝ์ฐ, ๋จ์์๋ ๋ถํ์ํ ํ์์ ์ง๊ฐ ์กด์ฌํ๋ค. ๊ทธ๋ฆผ 1์ ์ผ๋ฐ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ ๋ถํ , ์ ํฉ์ฉ ํ์ด์คํธ ์ ๊ฐํ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ ๋๋ฉด์ ๋ํ๋ด์๋ค. ๋ ๊ฐ์ง ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ ๋ชจ๋ ์จ์ดํผ ํฌ๊ธฐ๋ 15.675 cm x 15.675
cm์ด๋ฉฐ, ์์ฉํ ๋์ด์๋ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ๋ฅผ ๊ธฐ๋ฐ์ผ๋ก ์ค๊ณํ์๋ค. ๊ธฐ๋ณธ์ ์ผ๋ก 1 mm ํญ์ ๊ฐ์ง 4๊ฐ์ ๋ฒ์ค๋ฐ(bus bar)์ 50 ฮผm ํญ์ ๊ฐ์ง ํ๊ฑฐ(finger)๊ฐ
100๊ฐ์ธ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ด๋ค. ๊ทธ๋ฆผ 1์ (a)๋ ์ผ๋ฐ ์ ์ธ ํ์์ ์ง์ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ด๊ธฐ ๋๋ฌธ์ ๋ฒ์ค๋ฐ์ ๋ฐฐ์น๋ ์ผ์ ํ๋ค. ํ์ง๋ง (b)์ ๊ทธ๋ฆผ์ ๊ฒฝ์ฐ, ๋ถํ ๋ฐ ์ ํฉ์ฉ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ด๊ธฐ ๋๋ฌธ์ ์ ๋ฉด
๋ฒ์ค๋ฐ๊ฐ ํ์ชฝ์ผ๋ก ์น์ฐ์ณ์ ธ ๋ถํ , ์ ํฉ์ ์ฉ์ดํ๊ฒ ์ค๊ณ๋์ด์๋ค. ๋ํ ์ผ๋ฐ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์๋ ๋ค๋ฅด๊ฒ ์ ๋ฉด ๋ฒ์ค๋ฐ๊ฐ ๋ถ๋ถ์ ์ผ๋ก 1mm์ ํญ์ ๊ฐ์ง๊ฒ ๋๋ค.
๋ถํ , ์ ํฉ๋ฅผ ์ํ ํ์์ ์ง์ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ๊ฐ ๋ณดํต์ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ ๋ค๋ฅด๊ฒ ํ์ฑ๋์ด์ผ ํ๋ ๊ฒ์ ๋ํ ์ดํด๋ฅผ ๋๊ธฐ ์ํด ๊ทธ๋ฆผ 2์ ๋ชจ์๋๋ฅผ ์ถ๊ฐํ์๋ค. ๋ถํ ๋ ๋จ์ ์
๋ค์ ๋๋น๋ฅผ ๋์ผํ๊ฒ ํ๊ธฐ ์ํด ๋ฒ์ค๋ฐ๋ ํ์ชฝ์ผ๋ก ์น์ฐ์ณ์ ธ ์ค๊ณ๋๋ฉฐ, ๋ถํ ๋ ํ์์ ์ง๋ฅผ ์ ํฉํ๋ ๊ณผ์ ์๋ ์ ๋
์ฑ ์ ์ฐฉ์ ์ธ ECA(Electrical Conductive Adhesive)๊ฐ ์ฌ์ฉ๋๋ค.
์ผ๋ฐ ์ ๊ทน๊ตฌ์กฐ ํ์์ ์ง์ ๊ฒฝ์ฐ์ ๊ธ์ ๋ฆฌ๋ณธ์ ๋ฉ๋ํ์ฌ ์ํธ ์ฐ๊ฒฐํ๊ธฐ ์ํด ํ๋ฉด Ag pad๊ฐ ํ์์ ์ด๋ค. ์ผ๋ฐ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ ํ๋ฉด Ag pad๋ ๊ทธ๋ฆผ 1(c)์ ๊ฐ์ด ์ ๋ฉด ๋ฒ์ค๋ฐ์ ๋์ผํ ์์น์์ ๋ฐ๋ํธ์ ์ ์ฉ๋๋ค. ์ด์๋ ๋ฌ๋ฆฌ ์๊ธ๋ ํ์๊ด ๋ชจ๋์ ์ ๋์ฑ ์ ์ฐฉ์ ๋ก ์ฐ๊ฒฐ๋๊ธฐ ๋๋ฌธ์ ์คํธ๋ง์ ์ ์ํ๊ธฐ ์ํ
๋ฉ๋์ด ํ์ํ์ง ์๋ค. ๋ฐ๋ผ์ ๊ทธ๋ฆผ 1(d)์ ๊ฐ์ด Ag pad๋ ์ ๊ฑฐํ ์ ์์ผ๋ฉฐ, ํ๋ฉด ์ ์ฒด ์์ญ์ ์๋ฃจ๋ฏธ๋(Al) ์ ๊ทน๋ง ์ ์ฉ๋๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 1. ํ์์ ์ง ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ ๋๋ฉด
Fig. 1. Drawings of solar cell electrode structure
๊ทธ๋ฆผ. 2. ๋ถํ , ์ ํฉ ํ์์ ์ง์ ์ฐ๊ฒฐ ๋ชจ์๋
Fig. 2. Diagram of Connection of dividing and bonding Solar Cells
2.2 ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ ์๋ฎฌ๋ ์ด์
ํ์์ ์ง์ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ ๋ฐ๋ฅธ ํน์ฑ์ ํ์ธํ๊ธฐ ์ํด Griddler ํ๋ก๊ทธ๋จ(Version 2.5)์ ์ฌ์ฉํ์๋ค(4). ์ด ํ๋ก๊ทธ๋จ์ ํ์์ ์ง์ ์ , ํ๋ฉด ์ ๊ทน์ ๋ฐ๋ผ ํ์์ ์ง ํ๋ฉด์ ์ธ๋ถํํ์ฌ ๊ฐ๊ฐ์ ๋ฑ๊ฐํ๋ก๋ฅผ ํ์ฑํ๋ค. ๊ทธ ํ ์
๋ ฅํ
ํ๋ผ๋ฏธํฐ์ ์์น๋ฅผ ์ ์ฉํ์ฌ ํ์์ ์ง์ ์ ๊ธฐ์ ์ธ ํน์ฑ์ ์์ธกํ ์ ์๋ค.
ํ 1์ ์๋ฎฌ๋ ์ด์
์ ์ฌ์ฉ๋ ํ๋ผ๋ฏธํฐ๋ฅผ ์ ๋ฆฌํ์๋ค. ๋ฒ์ค๋ฐ์ ํ๊ฑฐ์ ๋๊ป๋ ๋์ผํ๋ฉฐ, ์(Ag)์ด ์ฃผ์ฑ๋ถ์ธ ํ์ด์คํธ๋ฅผ ์ฌ์ฉํ์๋ค. ์ด์ ๋ฐ๋ผ, ํ๊ฑฐ์ ๋๊ป์
๋น์ ํญ์ ๊ณ์ฐํ์ฌ 2.25 mโฆ/sq๋ฅผ ์ถ์ถํ์๋ค. ์๋ฏธํฐ(emitter)์ ๋ฉด์ ํญ์ ์คํฌ๋ฆฐ ์ธ์์ ์ฌ์ฉ๋๋ ์จ์ดํผ์ ์ ์กฐ์ฌ์์ ์ ๊ณตํ๋ ๊ฐ์ ์ฌ์ฉํ์๋ค.
์ด์ธ์ ์ฌ๋ฌ ์ฌ๊ฒฐํฉ์ ๊ด๋ จ๋ ํ๋ผ๋ฏธํฐ J01์ J02๋ ์ค๋ฆฌ์ฝ ํ์์ ์ง์ ํ๊ท ์ ์ธ ๊ฐ์ ์ฐธ๊ณ ํ์ฌ ๋ฌธํ ๊ฐ์ ์ด์ฉํ์๋ค(5-8). ๋ํ JL, non-shaded area๋ ์ ๋ฉด ๊ธ์์ด ํ์ฑ๋์ด ์์ง ์์ ํ์์ ์ง๊ฐ ์ต๋๋ก ๊ฐ์ง ์ ์๋ ๋จ๋ฝ ์ ๋ฅ ๋ฐ๋ ๊ฐ์ผ๋ก์, ์คํฌ๋ฆฐ ์ธ์์
์ฌ์ฉ๋๋ ๋ฐ๊ณต์ ์
์ ์ฌ์์ ์ฐธ๊ณ ํ์ฌ ์ถ์ถํ์๋ค.
ํ 1. ์๋ฎฌ๋ ์ด์
์
๋ ฅ ํ๋ผ๋ฏธํฐ
Table 1. Simulation input parameters
Simulation Input Parameters
|
Busbar sheet resistance (mโฆ/sq)
|
2.25
|
Finger sheet resistance (mโฆ/sq)
|
2.25
|
Emitter sheet resistance (โฆ/sq)
|
85
|
Passivated area-J01 (fA/cm2)
|
201
|
Passivated area-J02 (nA/cm2)
|
8.18
|
Metal contact area-J01 (fA/cm2)
|
2,100
|
Metal contact area-J02 (nA/cm2)
|
100
|
Edge Reconmination-J01 (nA/cm)
|
1000
|
Edge Reconmination-J02 (nA/cm)
|
19
|
JL, non-shaded area (mA/cm2)
|
36.8
|
2.3 ์คํฌ๋ฆฐ ์ธ์๋ฅผ ์ด์ฉํ ํ์์ ์ง์ ์ ๊ทน ํ์ฑ
์๋ฎฌ๋ ์ด์
์ ํตํด ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ๊ฐ ์ค๊ณ๋ ๋ ์ข
๋ฅ์ ํ์์ ์ง๋ ์คํฌ๋ฆฐ ์ธ์๋ฅผ ํตํด ์ ์๋์๋ค. ์คํฌ๋ฆฐ ์ธ์์ ์ฌ์ฉํ ์
์ ์ ๊ทน ๊ธ์ํ ์ด์ ๋จ๊ณ๊น์ง ์์ฑ๋์ด
์๋ ๋ฐ ๊ณต์ ์
์ ์ฌ์ฉํ์๋ค. ๋ฐ๊ณต์ ์
์ ํฌ๊ธฐ 156.75$\times$156.75 mm, ๋๊ป 200 ใ,์ธ P-ํ ๋ค๊ฒฐ์ ์ค๋ฆฌ์ฝ ์จ์ดํผ์ด๋ฉฐ,
ํ์ฐ ๊ณต์ ์ ํตํด ํ์ฑํ ์๋ฏธํฐ ๋ฉด ์ ํญ์ 85 โฆ/sq ์ด๋ค. ์คํฌ๋ฆฐ ์ธ์์ ์ํด ์ ๊ทน์ ํ์ฑํ๋ ๊ธ์ํ ๊ณต์ ๊ณผ์ ์ ๊ทธ๋ฆผ 3์ ๋ํ๋ด์๋ค. ๊ทธ๋ฆผ์์์ ๊ฐ์ด ์ ๋ฉด ์ ๊ทน ์ธ์, ๊ฑด์กฐ, ํ๋ฉด Ag pad ์ธ์, ๊ฑด์กฐ, ํ๋ฉด Al ์ ๊ทน ์ธ์, ๊ฑด์กฐ๋ฅผ ๋ง์ง๋ง์ผ๋ก ๋์ ์์ฑ(co-firing)
๊ณผ์ ์ ๊ฑฐ์ณ ์๋ฃ๋๋ค. Ag ํ์ด์คํธ ์ ๊ฐํ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ๋ ํ๋ฉด Ag pad๊ฐ ์๊ธฐ ๋๋ฌธ์ ํ๋์ ์ธ์ ๋ฐ ๊ฑด์กฐ ๊ณต์ ์ด ์๋ต๋๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 3. ์คํฌ๋ฆฐ ์ธ์ ๊ณต์ ์์๋
Fig. 3. Flowchart of screen printing process
์คํฌ๋ฆฐ ์ธ์๋ก ๊ธ์ํ(Metallization) ๊ณต์ ์ ๋ง์น ํ์์ ์ง๋
๊ทธ๋ฆผ 4์ ๋ํ๋ด์๋ค. ์ข์ธก ์ด๋ฏธ์ง๋ ์ผ๋ฐ์ ์ธ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ๋ฅผ ๊ฐ์ง ํ์์ ์ง์ ์ ๋ฉด๊ณผ ํ๋ฉด์ด๋ฉฐ, ์ฐ์ธก์ Ag ํ์ด์คํธ ์ ๊ฐํ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ๋ฅผ ๊ฐ์ง ํ์์ ์ง์ด๋ค.
์ค์ ํ์์ ์ง๋ฅผ ์ธก์ ํ์ฌ ์๋ฎฌ๋ ์ด์
์ ๊ฒ์ฆํ๋ ๋จ๊ณ๋ฅผ ๊ฑฐ์น๊ณ , ์ถ๊ฐ์ ์ผ๋ก ์ค๋์ ์ธก์ ํ์ฌ ๊ธฐ์กด ํ์์ ์ง์ ๋น๊ตํ์ฌ ํ์ด์คํธ ์ ๊ฐ์จ์ ์ธก์ ํ๊ณ ์ ํ๋ค.
๊ทธ๋ฆผ. 4. ์คํฌ๋ฆฐ ์ธ์๋ก ์ ์๋ ๋ ์ข
๋ฅ์ ํ์์ ์ง
Fig. 4. Two type solar cells fabricated by screen printing
3. ๊ฒฐ๊ณผ ๋ฐ ๊ณ ์ฐฐ
์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ ๋ฐ๋ฅธ ํ์์ ์ง ํน์ฑ์ ํ์ธํ๊ธฐ ์ํด ๊ทธ๋ฆผ 1์ ๋๋ฉด๊ณผ ํ 1์ ํ๋ผ๋ฏธํฐ๋ฅผ ๊ธฐ๋ฐ์ผ๋ก ์๋ฎฌ๋ ์ด์
ํ์๊ณ , ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ํ 2์ ๋ํ๋ด์๋ค. Ag ํ์ด์คํธ ์ ๊ฐํ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ๊ฐ ์ผ๋ฐ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ ๋นํด ํจ์จ์ด 0.1% ์์นํ ๊ฒ์ ํ์ธํ ์ ์๋ค. ์ ๊ฐํ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ ๋ฒ์ค๋ฐ๋
dash-type์ผ๋ก ์ผ๋ฐ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ line-type ๋ฒ์ค๋ฐ ์์์ ์ํด ๋น์ ํก์ํ์ง ๋ชปํ๋ ๋ฉด์ ์ด ์๊ด ์์ญ์ผ๋ก ๋ณํ๋จ์ ๋ฐ๋ผ ๋ ๋ง์ ์๊ด
๋ฉด์ ์ ๊ฐ์ง ์ ์๋ค. ์ฆ, ์๊ด ๋ฉด์ ์ฆ๊ฐ์ ๋ฐ๋ผ ๋จ๋ฝ์ ๋ฅ๋ฐ๋(short-circuit current density, Jsc)๊ฐ ์ฆ๊ฐํ์๊ณ , ์ด๋
ํจ์จ ํฅ์์ผ๋ก ๋ํ๋ ๊ฒ์ด๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋ ์ถฉ์ง๋ฅ (fill factor)์ ๋ฐ๋๋ก ๊ฐ์ํ๋๋ฐ, ์ด๋ ๋ฒ์ค๋ฐ์ ๋ฐฐ์น์ ๊ด๋ จ์ด ์๋ค. ์์ฑ๋ ์ ๋ฅ๋ ํ๊ฑฐ๋ฅผ
ํตํด ๋ฒ์ค๋ฐ๋ก ์ด๋ํ๊ฒ ๋๋ค. ์ ๋ฅ๊ฐ ํ๊ฑฐ๋ฅผ ํตํด ์ด๋ํจ์ ๋ฐ๋ผ ํ๊ฑฐ ์ ํญ์ ์ํ ์ ๋ ฅ ์์ค์ด ๋ฐ์ํ๋ค. ์ด๋ฅผ ์ต๋ํ ์ค์ด๊ธฐ ์ํด์๋ ๋์ผํ ๊ฐ๊ฒฉ์ผ๋ก
๋ฒ์ค๋ฐ๊ฐ ๋ฐฐ์น๋์ด์ผ ์ ๋ฅ๊ฐ ์ต์ํ์ ๊ฑฐ๋ฆฌ๋ฅผ ์ด๋ํ์ฌ ์ ๋ ฅ ์์ค์ ์ต์ํ ํ ์ ์๋ค. ํ์ง๋ง ๋ถํ , ์ ํฉ์ฉ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ ๊ฒฝ์ฐ, ๋ฒ์ค๋ฐ๊ฐ ํ์ชฝ์ผ๋ก ์น์ฐ์ณ์ ธ
์๋ ๋น๋์นญ์ ์ธ ํํ๋ฅผ ์ด๋ฃจ๊ณ ์๋ค. ๋ฐ๋ผ์ ์ผ๋ฐ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ ๋นํด ์ง๋ ฌ ์ ํญ์ด ๋ค์ ์ฆ๊ฐํ์ฌ ๊ณก์ ์ธ์๊ฐ ๋ค์ ๊ฐ์ํ๋ ๊ฒ์ผ๋ก ํ์ธ๋๋ค.
ํ 2. ์ ๊ทน ํจํด์ ๋ฐ๋ฅธ ํ์ ์ ์ง ์๋ฎฌ๋ ์ด์
๋ฐ ์ธก์ ๊ฒฐ๊ณผ
Table 2. Simulation and measurement results of solar cell according to electrode pattern
|
Conventional-type
electrode structure
|
Reduction-type electrode structure
|
Simulation
|
Measurement
|
Simulation
|
Measurement
|
Efficiency (%)
|
17.93
|
17.96
|
18.03
|
17.87
|
Fill Factor (%)
|
79.96
|
80.94
|
79.18
|
79.01
|
Voc (mV)
|
646.12
|
645.17
|
648.42
|
650.90
|
Jsc (mA/cm2)
|
34.71
|
34.38
|
35.12
|
34.75
|
Vmp (mV)
|
550.70
|
552.76
|
548.54
|
548.57
|
Imp (A)
|
8.00
|
7.98
|
8.08
|
8.01
|
์คํฌ๋ฆฐ ์ธ์๋ก ์ ์๋ ์ผ๋ฐ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ Ag ํ์ด์คํธ ์ ๊ฐํ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ๋ฅผ ๊ฐ๋ ํ์์ ์ง์ ํน์ฑ์ ์ธก์ ํ์ฌ
ํ 2 ์ ๋ํ๋ด์๋ค. ์ผ๋ฐ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ ํ์์ ์ง๋ ์๋ฎฌ๋ ์ด์
๊ฒฐ๊ณผ์ ์ธก์ ๊ฐ์ ํฐ ์ฐจ์ด๊ฐ ์์์ ํ์ธํ์๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋ Ag ํ์ด์คํธ ์ ๊ฐํ ํ์์ ์ง์ ๊ฒฝ์ฐ,
์ค์ ์
ํจ์จ ์ธก์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ 17.87%๋ก, ์๋ฎฌ๋ ์ด์
๊ฒฐ๊ณผ์ธ 18.03% ๋ณด๋ค 0.16% ๋ฎ๊ฒ ์ธก์ ๋์๋ค. Ag ํ์ด์คํธ ์ ๊ฐํ ์ ๊ทน ํจํด์ line-type์ด
์๋ dash-type์ ๋ฒ์ค๋ฐ๋ฅผ ๊ฐ๋๋ค. ๋ฐ๋ผ์ ์๋ฎฌ๋ ์ด์
๊ฒฐ๊ณผ์์๋ ๋ ๋์ ์๊ด ๋ฉด์ ์ผ๋ก ์ธํด Jsc ์์นํจ๊ณผ๋ฅผ ์ป์๋ค. ํ์ง๋ง ์ค์ ํ์์ ์ง
ํน์ฑ ์ธก์ ์ ์ ์ด ์ง๊ทธ(Zig)์ ์ํ ์์์ผ๋ก ์ธํด ๋ฒ์ค๋ฐ์ ํํ์ ๊ด๊ณ์์ด ์๊ด ์์ญ์ ์์์ ์ผ์ผํจ๋ค. ๋ฐ๋ผ์ ์๋ฎฌ๋ ์ด์
๊ฒฐ๊ณผ์ ๋นํด ์ธก์
๊ฒฐ๊ณผ๋ ๋ ๋ฎ์ Jsc๋ฅผ ๋ํ๋ด๊ณ ์ฝ๊ฐ์ ํจ์จ์ฐจ์ด๋ฅผ ๋ณด์๋ค
(9).
ํ 3. ํ์์ ์ง์ ์ข
๋ฅ๋ณ Al ๋ฐ Ag ์ ๊ทน ๋ฌด๊ฒ
Table 3. Weight of Al and Ag electrode by type of solar cell
Weight
Type
|
Total (A)
|
Al electrode + wafer (B)
|
Ag electrode (C)
|
Conventional solar cell
|
11.983 g
|
11.544 g
|
0.439 g
|
Reduction-type solar cell
|
11.802 g
|
11.554 g
|
0.248 g
|
Ag ์ ๊ทน ํ์ด์คํธ ์ ๊ฐ์จ์ ์ธก์ ํ๊ธฐ์ ์์, ๋จผ์ ์ ๊ทน ํ์ด์คํธ์ ์ ๊ฐ๋ฅ ์ ๋ฉด์ ๊ณ์ฐ์ ํตํด ์์ธกํ์๋ค. ์ผ๋ฐ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์์ ์ ๋ฉด ์ ๊ทน ๋ฉด์ ์ 1394.7
mm
2, ํ๋ฉด Ag pad ๋ฉด์ ์ 619 mm
2์ด๋ค. ์ด์ ๋น๊ตํ์ฌ ์ ๊ฐํ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ๋ ์ ๋ฉด 1125.37 mm
2, ํ๋ฉด Ag pad๋ ์์ผ๋ฏ๋ก, ์ผ๋ฐ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ ๋น๊ตํ์ฌ ์ฌ์ฉ๋ ์ ๊ทน ์(Ag) ํ์ด์คํธ๋ 44.115% ๊ฐ์ํ์๋ค. ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ํ์์ ์ง์ ์ฌ์ฉ๋๋
Ag ์ ๊ทน ํ์ด์คํธ์ ์ ๊ฐ๋ฅ ์ ๊ณ์ฐํ๊ธฐ ์ํด ํ์์ ์ง์ ์ค๋์ ์ธก์ ํ์ฌ Ag ํ์ด์คํธ์ ์ค๋์ ๊ณ์ฐํ์๋ค. ๋จผ์ ์ ๊ทน์ด ํฌํจ๋ ํ์์ ์ง์ ์ด ์ค๋์
A๋ผ ํ ๋, ํ๋ฉด ์๋ฃจ๋ฏธ๋(Al) ์ ๊ทน๋ง ์ธ์๋ ํ์์ ์ง๋ฅผ B๋ผ ํ๋ค. ๊ทธ๋ฆฌ๊ณ ํ์์ ์ง์ ์ค๋ฒ ์ ๊ทน์ ์ค๋์ C๋ผ ํ๋ฉด, A-B=C๊ฐ ์ฑ๋ฆฝํ๋ค.
๋ฐ๋ผ์ ๊ฐ ํ์์ ์ง์ ์ค๋์ ์ธก์ ํ๊ณ ๊ณ์ฐ ๊ณผ์ ์ ๊ฑฐ์ณ ์ผ๋ฐ์ ์ธ ํ์์ ์ง์ ์ค๋ฒ ์ ๊ทน์ ์ค๋๊ณผ ํ์ด์คํธ ์ ๊ฐํ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ ์ค๋ฒ ์ ๊ทน์ ์ค๋์ ๊ณ์ฐํ์ฌ
์ ๊ฐ๋ฅ ์ ๊ณ์ฐํ์๋ค. ํ์์ ์ง์ ์ค๋์ ์ ์์ ์ธ์ ์ฌ์ฉํ์ฌ ์ธก์ ํ์์ผ๋ฉฐ,
ํ 3์ ๋ํ๋ด์๋ค. ์ผ๋ฐ ํ์์ ์ง์ ๊ฒฝ์ฐ, ํ๋ฉด ์๋ฃจ๋ฏธ๋ ์ ๊ทน์ Ag pad๊ฐ ์ธ์๋๋ ์์ญ์๋ ์ธ์๋์ง ์๋๋ค. ํ์ง๋ง ํ๋ฉด Ag pad๊ฐ ์ ๊ฑฐ๋ ์ ๊ฐํ
์ ๊ทน์ ํ๋ฉด ์๋ฃจ๋ฏธ๋์ ํ๋ฉด ์ ์ฒด ์์ญ์ ์ธ์๋๋ค. ์ด ๋๋ฌธ์ ๋ ์ข
๋ฅ ํ์์ ์ง์ ํ๋ฉด ์๋ฃจ๋ฏธ๋ ์ ๊ทน์ ์ค๋ ์ฐจ์ด๊ฐ ๋ฐ์ํ ๊ฒ์ ํ์ธํ ์ ์๋ค.
๊ฒฐ๊ณผ์ ์ผ๋ก ์ผ๋ฐ ํ์์ ์ง์ ์ค๋ฒ ์ ๊ทน ์ค๋์ 0.439 g, ํ์ด์คํธ ์ ๊ฐํ ํ์์ ์ง์ ์ค๋ฒ ์ ๊ทน ์ค๋์ 0.248 g์ผ๋ก ํ์ธ๋์๋ค. ์ ๊ทน์ ์ผ๋ฐ
์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ ๋นํด ํ์ด์คํธ ์ ๊ฐํ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ๊ฐ ์ค๋ฒ ์ ๊ทน ํ์ด์คํธ ์ฌ์ฉ๋์ด 43.556% ์ ๊ฐ๋ ์ ์์์ ํ์ธํ์๋ค.
4. ๊ฒฐ ๋ก
๋ณธ ๋
ผ๋ฌธ์์๋ ์๊ธ๋ ๋ชจ๋์ ์๊ฐ ์ ๊ฐ์ ์ํ ์ค๋ฒ ํ์ด์คํธ๋ฅผ ์ ๊ฐํ ์ ์๋ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ๋ฅผ ์ค๊ณํ์๋ค. ๋จผ์ , ๋ถํ , ์ ํฉ์ฉ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ ๋ฒ์ค๋ฐ ํํ๋ฅผ
๋ผ์ธ ํ์
์ด ์๋ dash-type์ผ๋ก ํ์ฑํ์ฌ ์๋ฎฌ๋ ์ด์
์ ์งํํ์๋ค. ์ผ๋ฐ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ๋ฅผ ๊ฐ์ง ํ์์ ์ง์ ๋น๊ตํ์ฌ ์คํ๋ ค ๋์ ํจ์จ์ ๋ณด์๋ค. ์ด๋
์๊ด ๋ฉด์ ์ ์ฆ๊ฐ๋ก ์ธํด Jsc๊ฐ ์์นํ์ฌ ํน์ฑ์ด ํฅ์๋์๋ค. ์๋ฎฌ๋ ์ด์
๊ธฐ๋ฐ์ผ๋ก ์ ์๋ ์ ๊ทน ํจํด์ ์คํฌ๋ฆฐ ์ธ์๋ฅผ ํตํด ๋ค๊ฒฐ์ ์ค๋ฆฌ์ฝ ํ์์ ์ง์
์ ์ฉํ์๋ค. ์๋กญ๊ฒ ๊ณ ์๋ ํ์ด์คํธ ์ ๊ฐํ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ ํ์์ ์ง์ ์ผ๋ฐ์ ์ธ ํ์์ ์ง ์ธก์ ์ ํตํด ์๋ฎฌ๋ ์ด์
๊ฒฐ๊ณผ์ ๋น๊ต๋ฅผ ํตํด ๊ฒ์ฆํ์๋ค. ๊ทธ ํ ์ค๋
์ธก์ ์ ํตํด ์ผ๋ฐ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ ์ฌ์ฉ๋๋ ์ค๋ฒ ์ ๊ทน ํ์ด์คํธ์ ํ์ด์คํธ ์ ๊ฐํ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ๋ฅผ ๋น๊ตํ ๊ฒฐ๊ณผ, 43.556%์ ์ค๋ฒ ํ์ด์คํธ๊ฐ ์ ๊ฐ๋ ์
์์์ ํ์ธํ์๋ค. ์๊ธ๋ ๋ชจ๋ ์ ์์ ์ฌ์ฉ๋๋ ๋ถํ , ์ ํฉ ํ์์ ์ง๋ ์ ํฉ๋์ด ๋จ์ ์
๋ค์ด ์ฐ๊ฒฐ๋๋ค. ์ด ๋๋ฌธ์ ์ผ๋ฐ ํ์ ์ ์ง์๋ ๋ค๋ฅด๊ฒ ๊ธ์
๋ฆฌ๋ณธ์ ๋ฉ๋ํ๊ธฐ ์ํ ๋ผ์ธ ํ์
์ ๋ฒ์ค๋ฐ๋ฅผ ํ์๋ก ํ์ง ์๋๋ค. ๋ฐ๋ผ์ ์ถํ ์ ๊ทน ๊ตฌ์กฐ์ ๋ฐ๋ฅธ ์๋ฎฌ๋ ์ด์
์ ํตํด ๋ถํ , ์ ํฉ์ฉ ํ์์ ์ง์ ์ต์ ํ๋
๋ฒ์ค๋ฐ ํ์
์ ๋ํ ๊ฐ๋ฐ๋ ์๋ฐ๋์ด์ผ ํ ๊ฒ์ผ๋ก ์ฌ๊ฒจ์ง๋ค.
Acknowledgements
This research was supported by Korea Electric Power Corporation (Grant number: R17XA05-1)
References
Nils Klasen, Andrew Mondon, Achim Kraft, Ulrich Eitner, March 2018, Shingled Cell
Interconnection: A New Generation of Bifacial PV-Modules, 7th Workshop on Metallization
and Interconnection for Crystalline Silicon Solar Cells
H. S. Jee, S. H. Lee, C. H. Jeong, J. H. Lee, March 2019, Electrically Conductive
Adhesives and the Shingled Array Cell for High Density Modules, Journal of Nanoscience
and Nanotechnology, Vol. 19, No. 3, pp. 1360-1363
Max Mittage, Tobias Zech, Martin Wiese, David Blรคsi, Matthieu Ebert, Harry Wirth,
June 2017, Cell-to-Module (CTM) Analysis for Photovoltaic Modules with Shingled Solar
Cells, in Proc. of 44th IEEE PVSC, pp. 1531-1536
J. Wong, June 2013, Griddler: Intelligent computer aided design of complex solar cell
metallization patterns, in Proc. of 2013 IEEE 39th Photovoltaic Specialists Conference,
pp. 933-938
A. Fell, K. R. McIntosh, P. P. Altermatt, G. J. M. Janssen, R. Stangl, A. Ho-Baillie,
H. Steinkemper, J. Greulich, M. Muller, B. Min, K. C. Fong, M. Hermle, I. G. Romijn,
M. D. Abbott, July 2015, Input Parameters for the Simulation of Silicon Solar Cells
in 2014, IEEE Journal of Photovoltaics, Vol. 5, No. 4, pp. 1250-1263
O. Breitenstein, March 2013, A two-diode model regarding the distributed series resistance,
Solar Energy Materials and Solar Cells, Vol. 110, pp. 77-86
V. Shanmugam, A. Khanna, P. K. Basu, A. G. Aberle, T. Mueller, J. Wong, April 2016,
Impact of the phosphorus emitter doping profile on metal contact recombination of
silicon wafer solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells, Vol. 147, pp. 171-176
J. Wong, R.Sridharan, V. Shanmugam, Nov 2015, Quantifying edge and peripheral recombination
losses in industrial silicon solar cells, IEEE Transactions on Electron Devices, Vol.
62, No. 11, pp. 3750-3755
A. W. Blakers, Feb 1992, Shading losses of solarโcell metal grids, Journal of Applied
Physics, Vol. 71, No. 10, pp. 5237-5241
์ ์์๊ฐ
ํ๋ฆผ๋ํ๊ต ์ ์๊ณตํ๊ณผ ์กธ์
(ํ์ฌ),
2018~ํ์ฌ ์ฑ๊ท ๊ด๋ํ๊ต ์ ์์ ๊ธฐ์ปดํจํฐ๊ณตํ๊ณผ (์์ฌ ๊ณผ์ ).
ํ๋ฐญ๋ํ๊ต ์ฐฝ์์ตํฉํ๊ณผ ์กธ์
(ํ์ฌ),
2018~ํ์ฌ ์ฑ๊ท ๊ด๋ํ๊ต ์ ์์ ๊ธฐ์ปดํจํฐ๊ณตํ๊ณผ (์์ฌ๊ณผ์ ).
์ด์ฌํ (Jeahyeong Lee)
1991๋
์ฑ๊ท ๊ด๋ํ๊ต ์ ๊ธฐ๊ณตํ๊ณผ ์กธ์
,
1992๋
๋ ๋ํ์ ์ ๊ธฐ๊ณตํ๊ณผ ์กธ์
(์์ฌ),
1994๋
๋ ๋ํ์ ์ ๊ธฐ์ฌ๋ฃ๊ณผ ์กธ์
(๋ฐ์ฌ),
ํ์ฌ ์ฑ๊ท ๊ด๋ํ๊ต ์ ์์ ๊ธฐ์ปดํจํฐ๊ณตํ๊ณผ ๊ต์.