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  1. (Dept. of Electrical Engineering, Myongji University, Yongin, Korea.)



Centralized Protection System, State Estimation, Defective Data, RTDS, Database

1. 서 론

정보통신기술(ICT : Information and Communication Technology)의 발달로 전력 산업을 포함한 여러 산업 군의 지속적인 발전이 이뤄지고 있으며, 그에 따른 전력 산업 및 전력의 수요가 증가하여 전력계통의 안정성과 신뢰성의 증대를 위하여 감시 및 제어 설비들의 수가 증가하였고, 전력계통 설비들은 점점 대규모화되고 있다. 그렇기에 대규모화되고 있는 전력계통에서의 안정적인 전력 공급을 위한 안정적 운용 및 관리에 관한 연구 및 개발이 진행되고 있다.

전력계통의 안정적인 전력 공급을 위한 안정적 운용 및 관리에 관한 연구로 1970년 Fred Schweppe에 의해 처음으로 전력시스템에서의 상태추정 개념이 도입되었다(1-2). 전력시스템 자동화 연구가 활발히 진행되기 이전의 경우 전력시스템에서의 상태추정은 주로 전력시스템의 상위 운영시스템인 EMS(Energy Management System)와 SCADA에서 주로 사용 및 연구가 진행되었지만, 변전소 자동화가 진행됨에 따라 변전소 내의 설비 및 시스템이 복잡해졌고, 이전 변전소와 달리 자동화가 진행되고 있는 변전소에서도 신뢰성과 정확성을 보장할 수 있는 데이터에 대한 필요성이 높아지고 그에 따른 변전소 내의 상태변수 추정에 관한 연구의 필요성도 대두된다(3-4). 변전소 자동화에 관한 연구는 1990년대 이전의 경우 제작 회사마다 서로 다른 IED(Intelligent Electronic Device)를 개발함으로써 상호운용성이 보장되지 못하여 상호 간 원활한 정보 교환이 어려웠기에 자동화 연구에 어려움이 존재했지만, 변전소 내의 시스템 구조 및 통신 네트워크에 대한 국제적 공통 표준인 IEC 61850이 개발됨에 따라 변전소 자동화에 관한 연구가 활발하게 진행된다(5-6).

본 논문에서는 변전소 자동화에 관한 연구 중 유연한 전력시스템 보호와 제어 기기의 관리 및 운영을 위한 중앙집중식 보호시스템이란 개념을 사용하고 있으며, 중앙집중식 보호시스템은 주 보호의 역할인 기존 보호 장치의 오·부동작으로 인해 계통 보호를 하지 못했을 경우 중앙 보호 장치(CPCU : Central Protection & Control Unit)를 통해 후비보호의 역할을 수행하기 위해서는 기존 Local IED의 기능을 수행하며, CPCU로 데이터를 전송하는 기능을 수행하는 IED인 SIED(Smart IED)에서 측정된 각 상의 전압, 전류 계측데이터를 중앙 컴퓨터인 CPCU로 데이터를 모으게 된다. 본 논문에서 사용하는 중앙집중식 보호시스템은 IEC 61850 표준을 기반으로 시스템을 형성하고 CPCU와 SIED 간의 데이터 교환은 IEC 61850에서 여러 방법을 정의하지만 고속 데이터 전송을 위한 GOOSE(Generic Object Oriented Substation Event) 메시지를 사용하였다(6). CPCU를 통한 계통 보호는 기존 보호 장치의 오·부동작시 동작하는 것으로 후비보호에 대한 신뢰성과 정확성이 보장되어야 한다. 하지만 중앙집중식 보호시스템의 측정기기 오차 및 측정데이터의 전송과정에서 발생한 오차 등 여러 원인으로 인해 신뢰성과 정확성이 낮아질 수 있기에 상태추정을 통해 불량데이터를 검출하여 신뢰성과 정확성을 높인다. 상태추정 방법으로는 여러 방법이 존재하지만, 컴퓨터 메모리를 효율적으로 사용할 수 있다는 장점이 있는 가중최소제곱법(WLS : Weighted Least Square)을 사용한 상태추정 알고리즘이 중앙집중식 보호시스템과 연동 가능한지 검증한다. 마지막으로 본 논문은 불량데이터가 존재한다는 가정하에 시험을 진행하였으며, 시험 환경에서의 SIED들은 TI 사의 TMS320C6678 멀티코어 DSP와 ARM 기반 멀티프로세서 EVM 보드인 AM5748을 이용하였고, CPCU는 서버 PC를 이용하여 구현하였다. SIED와 CPCU 모두 SISCO 사의 MMS Ease Lite Library 6.2ver 툴 기반으로 개발을 하였으며 실험 모의 계통은 RTDS(Real Time Digital Simulator)의 전용 소프트웨어인 RSCAD를 이용하여 모의시험 계통을 설계하여 데이터를 계측하도록 모의하였다. 상태변수 추정 프로그램은 CPCU로부터 수집된 데이터를 DB에 저장하게 되는데 DB는 MYSQL 5.2ver을 사용하였으며, 주기에 따라 Python 프로그램에서 DB 데이터를 가져와 상태변수 추정을 수행한 후 추정데이터와 측정데이터를 이용하여 불량데이터를 검출하도록 설계를 하였다.

2. 중앙집중식 보호시스템의 상태변수 추정

2.1 중앙집중식 보호시스템의 상태변수 추정

변전소 자동화 연구에서 각 SIED에 측정된 각 상의 전압, 전류 및 측정된 시간 데이터를 중앙 컴퓨터로 구성된 CPCU로 데이터를 전송하여 주 보호 동작을 수행하는 기존 보호 장치의 오·부동작으로 인해 계통 보호를 수행하지 못했을 경우 CPCU를 통해 후비보호 동작을 수행하는 계통 보호시스템을 중앙집중식 보호시스템이라고 한다.

중앙집중식 보호시스템과 상태추정 및 불량데이터 검출 시스템 결합 구조는 다음 그림 1과 같다. 기존 중앙집중식 보호시스템의 동작에 영향을 주지 않으며 각 SIED에서 측정된 데이터는 CPCU로 수집됨과 동시에 정해진 주기마다 DB(Data Base)에 데이터를 저장한다. DB에 저장된 데이터는 상태추정 프로그램으로 데이터를 불러와 상태추정 및 불량데이터 검출을 수행한 후 불량데이터와 계측 시간을 DB에 저장한다.

그림. 1. 중앙집중식 보호시스템 상태추정 프로그램 구성

Fig. 1. Organizing a centralized protection system state estimation program

../../Resources/kiee/KIEE.2022.71.2.335/fig1.png

2.2.1 상태변수 추정 방법

전력시스템에서의 상태변수 추정으로 WLS 방법이 주로 사용되며, WLS 이론을 사용한 상태변수 추정 기법의 수학적 모델은 계통에서의 측정데이터, 상태변수와 오차 간의 관계에 근거하여 정규화 가능하며, 상태변수의 경우 측정 함수의 형태로 변환하여 식(1)으로 나타낼 수 있다.

(1)
$$ z=h(x)+e $$

$z$ : 측정데이터

$h(x)$ : 상태변수 $x$ 의 측정함수

$e:$ 오차

확률밀도함수(PDF : Probability Density Function)의 평균이 0인 오차를 가진다면 가우시안 분포 확률밀도함수로 나타낼 수 있으며, 여러 측정기기 간 측정데이터 오차가 편중되지 않는다면 최대가능도 방법(Maximum Likelihood Method)을 통한 상태변수 추정이 가능해진다. 상태변수에 대한 측정함수가 모두 독립적이라고 하면 최대가능도 방법을 통한 상태변수 추정은 WLS 상태변수 추정과 동일시되며, 이러한 상태변수 추정을 다수의 측정기기에 대하여 측정데이터의 측정값과 추정값의 오차를 최소화하기 위한 2차 목적함수로 나타낼 수 있다(1-4).

(2)
$$ J(x)=\sum_{i=1}^{N} \frac{\left(z_{i}-h_{i}(x)\right)^{2}}{\sigma_{i}^{2}} $$

$J(x): 2$ 차 목적함수

$\sigma_{i}^{2}$ : 해당 측정기기 오차의 분산

$N:$ 측정기기 수

$z_{i}$ : 해당 측정기기 측정 데이터

2 차 목적함수를 WLS을 통한 상태벡터 형태로 수식화 할 수 있다. 측정함수 $h_{i}$ 가 선형함수이면 $h_{i}(x)$ 는 시스템 행렬 $(\mathrm{H})$ 과 상태변수 간의 곱으로 표현할 수 있으며, 측정기기 오차의 분산 $\sigma_{i}^{2}$ 은 최소 제곱법의 경우 측정오차의 공분산 행렬 (Covariance Matrix) $R$ 로 표현하여 측정값의 정확도를 표시한다(3).

(3)
$$ J(X)=[Z-[H] X]^{T}[R]^{-1}[Z-[H] X] $$

(4)
$$ [H] X=\left[\begin{array}{c} h_{1}(x) \\ h_{2}(x) \\ \vdots \\ h_{N}(x) \end{array}\right] $$

(5)
$$ Z=\left[\begin{array}{c} z_{1} \\ z_{2} \\ \vdots \\ z_{N} \end{array}\right] $$

(6)
$$ R=\left[\begin{array}{llll} \sigma_{1}^{2} & & & \\ & \sigma_{2}^{2} & & \\ & & \ddots & \\ & & & \sigma_{N}^{2} \end{array}\right] $$

목적함수 $J(X)$를 최소화하기 위해 측정함수에 대한 자코비안 행렬 및 테일러 급수를 통한 정규방정식을 다음과 같이 나타낼 수 있다.

(7)
$$ X_{e s t}=\left(H^{T} R^{-1} H\right)^{-1} H^{T} R^{-1} Z $$

$X_{est}$는 정규방정식의 해로 상태변수에 대한 추정치이며 추정치를 통해 추정 데이터 $Z_{est}$를 구할 수 있다.

(8)
$Z_{\text {est }}=[H]\left[X_{\text {est }}\right]$

2.2.2 추정데이터를 이용한 불량데이터 검출

전력시스템에서의 측정기기의 고장, 오동작 혹은 데이터 전송과정에서 발생하는 아날로그 에러를 불량데이터라고 하며 상태추정을 수행한 추정 데이터의 신뢰도를 저하할 수 있다. 그렇기에 WLS을 사용한 상태추정을 통한 추정 데이터는 불량데이터 검출을 통해 측정기기의 문제점을 파악할 수 있으며 추정 데이터의 신뢰도를 높일 수 있기에 상태추정에서는 불량데이터 검출 과정이 필요하다. 불량데이터를 검출하는 방법으로는 불량데이터의 유무에 대한 것은 판별하지 않고, 불량데이터가 항상 존재한다는 가정하에 추정 데이터와 측정데이터 간의 표준화 오차 $y_{i}^{\text {norm }}$을 계산하여 측정데이터 중 최댓값을 불량데이터로 간주한다(3).

(9)
$$ y_{i}^{\text {norm }}=\frac{\left|Z_{\text {est }}-Z\right|}{R_{i i}} $$

$R_{i j}$ : 공분산 행렬

상태변수 추정 방법과 추정 데이터를 이용한 불량데이터 검출 과정을 프로그램으로 구성한다면 다음 그림 2와 같은 순서도로 나타낼 수 있다.

그림. 2. 상태추정 프로그램 수행 순서

Fig. 2. Execution order of the state estimation program

../../Resources/kiee/KIEE.2022.71.2.335/fig2.png

3. 중앙집중식 보호시스템의 상태변수 S/W 개발

3.1 중앙집중식 보호시스템의 상태변수 S/W 개발

중앙집중식 보호시스템에서 사용되는 CPCU 및 IED는 IEC 61850 reference source code를 사용하여 개발을 진행하였으며, CPCU와 IED 간의 데이터 교환 방식으로 IEC 61850 통신 모델인 GOOSE를 사용한다(6). GOOSE는 publish-subscribe 모델을 기반으로 빠르고 신뢰할 수 있는 데이터 교환 모델로 IED에서 계측된 전압, 전류 데이터 및 데이터 측정 시간을 중앙 보호 장치로 계측데이터를 전송하여 보호 알고리즘을 수행하지만, 다른 설계 프로그램 언어의 사용 혹은 다른 프로토콜을 사용하는 시스템과의 연결에 필요한 연결 통로의 역할로는 어려움이 있다. 그렇기에 계통데이터를 저장장소에 저장하여 여러 분야와의 연결 통로의 역할을 하며 효율적으로 중복된 정보를 일원화하여 처리가 가능한 Database를 사용한다.

본 논문에서는 중앙 보호 장치로 수집된 계측데이터를 DB로 저장한 후 상태추정 프로그램으로 데이터를 불러와 불량데이터 검출을 수행한다.

3.2 WLS 기반 상태추정 프로그램 설계

WLS 기반 상태추정 프로그램 설계를 위해 시스템 행렬과 계측기 표준 편차 행렬의 구성이 필요로 하며, 행렬을 구성하기 위해서는 시스템 모델링을 통한 상태변수의 관계식이 필요로 한다. 본 논문에서는 전류를 상태변수로 하여 상태추정 및 불량데이터의 검출을 수행하였고 그림 3의 계통도를 대상으로 하였다.

그림. 3. 배전 변전소 계통

Fig. 3. Distribution substation system

../../Resources/kiee/KIEE.2022.71.2.335/fig3.png

해당 배전 변전소 내의 CT는 그림 4와 같이 위치하며 CT의 측정값의 오차를 고려하여 식(1) 상태변수의 관계식을 다음과 같이 나타낼 수 있다.

(10)
$$ \left[\begin{array}{c} z_{1} \\ z_{2} \\ \vdots \\ z_{12} \end{array}\right]=\left[\begin{array}{c} h_{1} \\ h_{2} \\ \vdots \\ h_{12} \end{array}\right]+\left[\begin{array}{c} e_{1} \\ e_{2} \\ \vdots \\ e_{12} \end{array}\right] $$

표 1은 상태추정 및 불량데이터 검출 수행에 있어 필요로 한 각 CT에 대한 시스템 행렬(System matrix)을 표현한 것으로 해당 CT 측정데이터의 전류데이터를 기준으로 배전선로의 CT1, CT2과 CT3, CT4는 분리가 되어 각 CT1과 CT2의 합은 CT10와 같으며, CT3과 CT4의 합은 CT12와 같으며, 각각 식(11)식(12)으로 나타낼 수 있다. 그리고 송전선로의 CT5, CT6, CT7, CT8과 변압기 1차측 CT들의 합은 0으로 식(13)으로 나타낼 수 있다. 각 변압기 측의 상태변수 구성 식은 식(14)식(15)으로 나타낼 수 있다. 시스템 행렬의 상태변수는 CT2, CT4, CT6, CT7, CT8, CT9, CT11로 지정을 하여 시스템 행렬을 구성하였다.

(11)
$$C T 1+C T 2=C T 10 $$

(12)
$$C T 3+C T 4=C T 12$$

(13)
$$C T 5+C T 6+C T 7+C T 8+C T 9+C T 11=0$$

(14)
$$C T 9+C T 10=0$$

(15)
$$C T 11+C T 12=0$$

표 1. 시스템 행렬

Table 1. System matrix

측정

상태변수

CT2

CT4

CT6

CT7

CT8

CT9

CT

11

CT1

-1

0

0

0

0

1

0

CT2

1

0

0

0

0

0

0

CT3

0

-1

0

0

0

0

1

CT4

0

1

0

0

0

0

0

CT5

0

0

-1

-1

-1

-1

-1

CT6

0

0

1

0

0

0

0

CT7

0

0

0

1

0

0

0

CT8

0

0

0

0

1

0

0

CT9

0

0

0

0

0

1

0

CT10

0

0

0

0

0

-1

0

CT11

0

0

0

0

0

0

1

CT12

0

0

0

0

0

0

-1

CT에 대한 계측기 오차는 이며, 해당 값을 가우스 분포 을 사용하여 측정기기의 오차 분산을 구할 수 있게 되는데 해당 변전소 측정기기의 오차 분산은 대략 0.0167의 값으로 도출되며 도출된 값으로 행렬을 구성하면, 행렬의 대각행렬에만 값이 적용된다. 상태추정 프로그램을 구성하는 시스템 행렬 및 계측기 표준 편차 행렬은 위의 과정을 통해 정의하게 된다.

4. 중앙집중식 보호시스템 상태추정 S/W 개발 결과

4.1 시험 환경

본 연구를 위한 시험 환경으로는 중앙집중식 보호시스템을 구성하고 있는 계측용 CT는 기존 Local IED의 기능을 수행하며, CPCU로 데이터를 전송하는 기능을 수행하는 IED인 “Smart IED”의 역할을 수행하는 TI사의 AM5748 EVM보드 10대와 서버 PC로 구성된 CPCU, RTDS로 구성되어있으며, DB 환경을 구성하는 PC와 상태추정을 수행하는 서버 PC로 구성되었다. 각 IED 개발 및 CPCU 개발에 사용된 툴은 SISCO 사의 MMS Ease Lite Library 6.2ver이며 TI 사에서 제공하는 예제 파일을 기반으로 구현하였다. 전압, 전류 계측 IED인 Smart IED의 ADC Sampling 주기는 128 Sampling이며 DFT 연산 주기는 50[ms]으로 연산하여 계측데이터와 계측 시간을 해당 LN(Logical Node)에 내부 매핑을 수행한다(5). CPCU에서 DB에 저장되는 주기는 1[s]로 DB 환경은 Omicron 사의 MYSQL을 사용하여 구성하였으며 상태추정 및 불량데이터 검출 프로그램은 Python 3.9.2ver을 사용하여 개발하였다.

중앙집중식 보호시스템과 상태추정 프로그램 연동 시험 진행 순서는 중앙집중식 보호시스템으로부터 일정한 주기에 따라 DB에 저장된 데이터를 Python으로 구성된 상태추정 프로그램으로 데이터를 불러와 불량데이터를 검출을 수행한 후 검출된 데이터를 시간, 해당 CT와 불량데이터를 DB에 저장을 수행한다. 전체 과정을 그림으로 나타낸 구성은 다음과 같다.

그림. 4. 중앙집중식 보호시스템과 상태추정 프로그램 연동 소프트웨어 구성

Fig. 4. Composition of software linked to a centralized protection system and a state estimation program

../../Resources/kiee/KIEE.2022.71.2.335/fig4.png

4.2 중앙집중식 보호시스템

중앙집중식 보호시스템 검증을 위한 시험 모의 계통을 RSCAD를 통해 모의한다. 모의 시 전압, 전류 아날로그 데이터는 RTDS를 통해 Smart IED인 AM5748 EVM 보드로 출력된다.

본 논문에서 계측용 CT로 사용되는 TI 사의 AM5748 EVM 보드로 구성된 Smart IED 10대는 보호 알고리즘에 사용되는 전압, 전류 데이터를 계측 및 페이저 크기 위상으로 연산하여 IEC 61850에서 정의하는 시퀀스 LN인 MMXU에 내부 매핑 후 GOOSE로 CPCU로 전송함과 동시에 Timestamp를 통해 계측 시간 또한 동시에 전송한다. GOOSE 송신 주기는 업데이트 주기와 동일한 50[ms]이다. 또한 변압기 측 구성을 담당하는 Smart IED는 LN인 MMXU를 2개 선언하여 변압기 1차측 데이터와 2차측 데이터를 구별하여 GOOSE 통신을 수행한다.

4.3 상태추정 및 불량데이터 검출

상태추정 및 불량데이터 검출을 위한 측정데이터는 변압기 기준으로 분리가 되어있는 배전선로 즉, 1차측 기준으로 데이터를 변환하여 프로그램을 수행한다. 프로그램 개발의 경우 행렬 구성 및 연산에 있어 복잡한 C언어와 달리 다양한 라이브러리 및 간결한 문법을 지원하는 Python 언어를 사용하여 상태추정 프로그램을 구성하였으며, DB와 Python을 사용한 WLS 기반 상태추정 및 불량데이터 검출 코드는 Matlab 연산과 비교를 하여 검증을 한다. 검증 데이터는 최종 연산 결과인 불량데이터 결과로 검증하였으며, 두 프로그램의 오차는 최대 0.05%로 거의 같은 연산 결과를 확인하였다.

표 2표 3은 CT5의 전류데이터에 무작위 배수를 취하여 CT 고장을 모의한 환경에서의 상태추정 및 불량데이터 검출 프로그램의 정상 동작을 확인하기 위한 시험 결과로 상태추정 및 불량데이터 검출을 마친 결과이다. 고장 전 검출 결과인 표 2와 고장 후 검출 결과인 표 3을 비교하였을 때 고장을 모의한 CT의 인접 CT의 표준화 오차 결과가 최대치인 것 확인하였으며, 중앙집중식 보호시스템과 연동한 상태추정 및 불량데이터 검출 프로그램이 정상 동작하는 것을 확인하였다.

표 2. CT5 고장 전 상태추정 및 불량데이터 검출 결과

Table 2. CT5 state estimation and defective data detection result before fault

CT

계측데이터 [kA]

추정데이터 [kA]

표준화 오차

1

0.0319

0.0321

1.4801

2

0.0355

0.0357

1.4801

3

0.0392

0.0394

1.5165

4

0.0283

0.0286

1.5165

5

0.1817

0.1815

2.1675

6

0.1817

0.1816

2.1675

7

0.1235

0.1238

2.1675

8

0.1235

0.1238

2.1675

9

0.0685

0.0679

4.8506

10

0.0674

0.0679

2.8534

11

0.0686

0.0680

4.0949

12

0.0675

0.0680

4.0188

표 3. CT5 고장 후 상태추정 및 불량데이터 검출 결과

Table 3. CT5 state estimation and defective data detection result after fault

CT

계측데이터 [kA]

추정데이터 [kA]

표준화 오차

1

0.0319

0.0315

3.0784

2

0.0355

0.0350

3.0784

3

0.0392

0.0387

3.3722

4

0.0283

0.0279

3.3722

5

0.1635

0.1671

21.7119

6

0.1817

0.1853

21.7119

7

0.1235

0.1201

21.7119

8

0.1235

0.1201

21.7119

9

0.0685

0.0665

12.1289

10

0.0674

0.0665

7.5120

11

0.0686

0.0666

13.0457

12

0.0675

0.0666

5.5918

위에서 언급한 고장 모의환경에서 Python 기반 상태추정 및 불량데이터 검출을 마친 데이터는 데이터가 계측된 시간과 불량데이터를 포함한 CT, 불량데이터를 표 4와 같이 저장한다. CT의 경우 표준화 오차의 최대치를 가지는 CT가 저장되지만, 표준화 오차의 결과가 고장이 발생한 CT의 인접 CT의 결과가 동일하므로 고장이 발생한 CT 혹은 인접 CT가 저장된다.

표 4. 계측 시간 및 표준화 오차 저장

Table 4. Save measurement time and standardization error

시간

CT

표준화 오차

2021-12-20 11:00:40.761

7

22.0326

2021-12-20 11:00:41.761

5

23.4749

2021-12-20 11:00:42.761

5

21.6542

2021-12-20 11:00:43.761

7

23.3432

2021-12-20 11:00:44.760

7

21.7119

5. 결 론

변전소 자동화를 위한 중앙집중식 보호시스템에 사용되는 측정기기 오동작 혹은 측정데이터 전송과정에 발생할 수 있는 문제 등 다양한 문제로 측정데이터의 오차가 발생할 수 있으며 오차로 인해 변전소 운영과 보호시스템의 기능 저하를 불러올 수 있다. 본 논문에서는 측정데이터의 오차로 인해 발생할 수 있는 불량데이터를 검출하여 문제를 해결하기 위한 WLS을 이용한 상태추정 및 불량데이터 검출 알고리즘을 제안하였으며 IEC 61850 기반 중앙집중식 보호시스템 환경과 연동을 하여 중앙집중식 보호시스템에 활용 가능함을 검증하였다. 중앙집중식 보호시스템 환경 구성은 TI 사의 AM5748 EVM 보드와 CPCU 서버 PC를 이용하며, 데이터 저장을 위한 DB와 상태추정 및 불량데이터 검출 프로그램은 CPCU와 별개의 서버 PC를 이용하여 시험 환경을 구성한다. 실시간 모의시험은 RTDS를 통한 아날로그 신호를 사용하여 계통환경을 구현하였다. 본 시험에서는 IED 간의 시각 동기를 위상차 보상을 통해 고려하였으며, IED와 CPCU 간의 데이터 교환주기는 후비보호를 고려하여 50ms 이내이지만 상태추정 및 불량데이터 검출 알고리즘의 경우 계통 보호처럼 빠르게 실행될 필요성은 낮기에 1초의 주기로 데이터를 저장하였다. 또한, 중앙집중식 보호시스템에서 상태추정 및 불량데이터 검출 알고리즘의 활용 가능성을 검증하는 시험으로 WLS 기반 상태추정 및 불량데이터 검출 알고리즘은 중앙집중식 보호시스템에서 계측된 데이터에 불량데이터가 있다는 가정하에 시험을 진행하였으며, Python 기반 상태추정 및 불량데이터 검출 프로그램 검증 방법으로 Matlab 기반 상태추정 및 불량데이터 검출 프로그램과 비교 분석하여 검증하였다. 본 논문에서의 상태추정 및 불량데이터 검출 시험은 불량데이터가 발생하는 위치를 검출하는 것만이 가능하고 불량데이터 유무에 대해서는 판별하기에 어려움이 존재한다. 추후 연구 사항으로는 카이스퀘어 테스트(Chi-squared test)를 활용하여 불량데이터 유무를 판별 가능한 상태추정 및 불량데이터 검출 알고리즘이 중앙집중식 보호시스템에서 유용하게 이용 가능한지에 대한 시험 및 연구를 진행할 예정이다.

Acknowledgements

This research was supported by Korea Electric Power Corporation under Grant R17XA05-2. This research was also supported by the Korea research foundation with funding from government (Ministry of Education) in 2021 (No. NRF-2021R1F1A1061798).

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저자소개

손규원(Gyu-Won Son)
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Gyu Won Son received the B.S. degrees in electrical engineering from Myongji University, South Korea, in 2020, currently studying for a M.S. degree.

His main research interests are Power System IT-based Protection and Automation.

하광민(Kwang-Min Ha)
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Kwang Min Ha received the B.S. degrees in electrical engineering from Myongji University, South Korea, in 2020, currently studying for a M.S. degree.

His main research interests are Power System IT-based Protection and Automation.

김수환(Su-Hwan Kim)
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Su Hwan Kim received the B.S. degrees in electrical engineering from Myongji University, South Korea, in 2019, currently studying for a M.S. degree.

His main research interests are Power System IT-based Protection and Automation

손규정(Kyou-Jung Son)
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Kyou Jung Son received the B.S., M.S. and Ph.D degrees in electrical engineering from Chung-Ang University, Seoul, Korea in 2012, 2014 and 2019, respectively.

Currently, he is a research professor at Myongji University, Yongin, Korea, His research interests are in the area of multimedia signal processing, adaptive signal processing and digital communication.

E-mail : skj9865@naver.com

남순열(Soon-Ryul Nam)
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Soon Ryul Nam received the B.S., M.S. and Ph.D. degrees in electrical engineering from the Seoul National University, Seoul, South Korea in 1996, 1998, and 2002, respectively.

Currently, he is Professor of Electrical Engineering at Myongji University, Yongin, South Korea, and interests include Power System IT-based Protection, Control and Automation.

Tel : 031-330-6361

E-mail : ptsouth@mju.ac.kr