곽보승
(Boseung Kwak)
1iD
김인동
(In-Dong Kim)
†iD
-
(MV&LV Circuit Breaker Design Dept, HD HYUNDAI ELECTRIC, Republic of Korea.)
Copyright © The Korea Institute for Structural Maintenance and Inspection
Key words
DC circuit breaker, Solid-state circuit breaker, Multi-port, LVDC, Reliability
1. 서 론
세계적으로 신재생에너지 발전원과 다양한 디지털 부하의 증가로 인해 DC 배전과 관련된 많은 연구가 이루어지고 있다. 국내에서도 정부의 에너지기술
개발계획에 따라 재생에너지 확대로 인한 지능형 전력망 구축을 통하여 차세대 DC 송배전 시스템의 개발을 활발히 추진하고 있다. 이처럼 DC 배전에
관한 관심이 증가하면서 DC 배전 계통에서의 DC 차단기에 대한 필요성도 함께 증가하고 있다.
현대 사회에 이르러 수많은 기술의 발달로 인해 수용가에서 사용하는 부하의 대부분은 디지털화되어 있으며, 이러한 부하들은 LVDC(Low Voltage
Direct Current)를 필요로 하는 경우가 많다[1]. 또한, 재생에너지 발전원과 ESS(Energy Storage System)와의 연계를 통해 수용가로 직접 전력을 공급할 수 있는 소규모 전력망인
마이크로그리드 구축의 증가로 LVDC 기술에 대한 중요성이 더욱 증가하고 있다[2]. 이러한 LVDC 시스템은 분산 전원 – ESS – 수용가에 걸쳐 멀티포트 시스템으로 이루어져 있는 경우가 많아 LVDC 멀티포트 시스템을 효율적으로
관리할 수 있는 다양한 연구가 진행되고 있다[3-5]. 따라서, LVDC 멀티포트 배전시스템의 신뢰성 향상과 고장전류의 빠른 차단을 위한 효과적인 DC 차단기에 대한 연구가 필요하다.
DC 차단기에는 대표적으로 기계식 차단기, 반도체 차단기, 하이브리드 차단기가 있다[6-7]. 기계식 차단기는 도통 손실이 적지만, 차단 속도가 가장 느리고 접점 개방 시의 아크 소호를 위한 시스템이 필요하므로 비용이 많이 든다. 반도체
차단기는 차단 속도가 가장 빠르지만, 반도체 소자의 특성으로 인해 정상상태에서 도통 손실이 비교적 크다. 하이브리드 차단기는 기계식 차단기와 반도체
차단기의 장점을 적절히 섞은 차단기이다. 하지만 하이브리드 차단기는 메인 도통 스위치가 기계식이라 도통 손실은 적지만, 차단 동작 시 기계식 스위치의
오프 신호 지연을 고려하지 않고 제어하게 되면 접점이 개방될 때 아크 발생을 억제하지 못해 차단기의 손상을 가져올 우려가 있다. 그리고 메인 도통
스위치가 기계식이므로 반도체 차단기보다 차단 속도는 떨어질 수밖에 없다. 따라서, 어떤 차단기를 설계할 것인지는 차단기를 설치하는 시스템의 특성에
따라 설계자가 적절히 선정해야 할 필요가 있다.
LVDC 시스템은 전력변환장치 기반으로 구성되어 있는 경우가 많아 시스템의 보호를 위해서는 빠른 차단 속도가 필수적이다[8]. 특히, LVDC 멀티포트 시스템일 경우에는 빠르게 사고 전류를 차단하지 못하면 다른 포트에 영향을 줄 수 있으므로, 차단기의 차단 속도는 가장
중요하게 생각해야 하는 특성이다. 즉, LVDC 멀티포트 시스템에서 신뢰성과 안정성이 높은 차단기를 이용하기 위해서는 반도체 차단기를 선정하는 것이
가장 합리적인 선택이며, 다양한 종류의 반도체 차단기가 연구되고 있다[9-11].
그림 1. 기존의 DC 반도체 차단기
Fig. 1. Existing DC solid-state circuit breaker
그림 2. 기존의 양방향 DC 반도체 차단기
Fig. 2. Existing bidirectional DC solid-state circuit breaker
반도체 차단기를 이용하게 될 경우, 필연적으로 정상상태에서의 도통 손실이 발생하게 된다. 전력반도체 소자 중에서 고전압 및 대전력에 유리한 IGBT(Insulated
Gate Bipolar Transistor), GTO(Gate Turn-Off thyristor), GCT(Gate Commutated Thyristor),
Thyristor를 비교하면, 사이리스터의 도통 손실이 다른 스위칭 소자들보다 매우 낮은 것을 확인할 수 있다. 정상상태에서 도통 손실이 적은 스위칭
소자를 사용하는 반도체 차단기가 시스템의 전력 효율 관점에서 더 좋은 차단기라고 할 수 있다[12-13].
그림 1과 그림 2는 각각 기존의 사이리스터 기반 DC 반도체 차단기와 양방향 DC 반도체 차단기의 토폴로지를 나타낸다[14-15]. 이러한 일반적인 DC 차단기들은 단일 포트를 기준으로 설계가 되어 있으므로 멀티포트를 가지는 시스템에서 그대로 이용하게 될 시, 그림 3과 같이 포트의 수가 늘어남에 따라 차단기의 수도 똑같이 증가할 수밖에 없다. 즉, 많은 수의 소자들이 들어가게 되고, 이는 곧 시스템 부피의 증가로
이어지며, 비용 대비 효율적이지 못한 시스템이라고 할 수 있다. 차단기가 동작하는 상황은 일반적인 상황이 아니기 때문에 동작 빈도수가 많지 않다.
그래서 그림 3과 같은 시스템을 구현할 경우, 멀티포트 시스템의 신뢰성과 안정성을 위해 불필요한 투자가 많아지게 된다. 따라서, 멀티포트 시스템에서 DC 차단기를
보다 더 효율적으로 이용할 수 있는 수단이 필요하다.
본 논문에서는 멀티포트 시스템에서 하나의 차단기로 모든 포트의 차단 동작을 수행할 수 있는 멀티포트 DC 반도체 차단기를 제안한다. 제안하는 멀티포트
DC 반도체 차단기는 포트의 수가 늘어남에 따라 필요한 소자의 수가 적어 포트의 확장에 용이하다. 또한, 기존의 공진전류 역주입방식의 DC 반도체
차단기에 비해 커뮤테이션 커패시터의 재충전이 매우 빨라 여러 포트의 차단 동작에 있어 우수한 특성을 가진다. 제안하는 멀티포트 DC 반도체 차단기는
실험을 통해 검증하였다.
그림 3. 일반적인 멀티포트 LVDC 시스템
Fig. 3. Typical multi-port LVDC system
2. 제안하는 멀티포트 DC 반도체 차단기
그림 4는 본 논문에서 제안하는 멀티포트 DC 반도체 차단기의 토폴로지이다. 차단기는 크게 메인 사이리스터부, 보조 사이리스터부, 차단부로 나뉜다. 메인
사이리스터부는 각 포트로 에너지를 전달하는 부분을 나타내며, $S_{1}$, $S_{2}$, …, $S_{N}$의 메인 사이리스터가 턴 오프 되어야
실질적으로 해당 포트를 차단할 수 있다. 보조 사이리스터부는 차단 동작을 위한 공진전류의 역주입 경로를 형성하는 부분이다. 단락 사고가 발생한 포트의
보조 사이리스터와 $S_{a0}$을 턴 온 시키면 공진전류가 역으로 흐르는 경로가 형성된다. 차단부는 차단기의 차단 동작을 담당하는 부분이며, 하나의
$L$, $C$를 통해 모든 포트의 차단 동작을 수행한다. 공진전류 역주입을 통해 차단 동작을 수행하게 되면, 커뮤테이션 커패시터 $C$는 그림 4에 나타나 있는 극성과 반대 방향으로 역충전이 이루어진다.
그림 4. 제안하는 멀티포트 DC 반도체 차단기 토폴로지
Fig. 4. Proposed multi-port DC solid-state circuit breaker topology
커뮤테이션 커패시터 $C$가 역방향으로 충전이 완료된 후 $S_{r0}$, $S_{r1}$을 턴 온 시키면, 역방향으로 공진이 일어나면서 커패시터
$C$가 원래의 방향대로 충전이 완료된다.
앞서 설명한 바와 같이 제안하는 멀티포트 DC 반도체 차단기는 하나의 차단부를 통해 모든 포트의 차단 동작을 수행할 수 있으므로 포트의 수가 증가하더라도
메인 사이리스터부와 보조 사이리스터부만을 추가하면 된다. 즉, 기존의 차단기들을 멀티포트 시스템에 그대로 적용한 경우보다 훨씬 적은 수의 소자가 필요하므로
포트 확장에 있어 훨씬 경제적이다. 또한, $L$-$C$ 공진을 이용하여 커뮤테이션 커패시터를 빠르게 재충전할 수 있어, 다음 차단 동작을 위한 준비
시간이 매우 짧다는 우수한 특성을 가지고 있다. 따라서, 하나의 차단부로 모든 포트의 차단 동작을 수행해야 하는 멀티포트 차단기에서 이러한 특성은
차단기의 신뢰성과 안정성을 크게 증가시킬 수 있으며, 차단기의 동작 책무를 위한 재투입 및 재차단 동작도 정상적으로 신속히 수행할 수 있다.
2.1 동작 모드 분석
그림 5는 제안하는 멀티포트 DC 반도체 차단기에서 2개의 포트만 이용하였을 때의 토폴로지를 나타낸다. 본 논문에서는 논문 작성의 편의를 위해 그림 5과 같이 2개의 PORT를 이용한 토폴로지 기반으로 멀티포트 DC 반도체 차단기의 동작 특성을 분석하였다.
그림 6은 제안하는 멀티포트 DC 반도체 차단기의 동작 모드를 나타내고, 그림 7은 동작 모드에 따른 파형의 특성을 분석한 그림이다. 차단기의 동작 모드는 크게 Charging Mode, Normal Mode, Breaking
Mode, Recharging Mode로 나뉜다.
그림 5. 제안하는 멀티포트 DC 반도체 차단기 (2-port 이용 시)
Fig. 5. Proposed multi-port DC solid-state circuit breaker when using 2-port
그림 6. 제안하는 멀티포트 DC 반도체 차단기 동작 모드
Fig. 6. Operating modes of the proposed multi-port DC solid-state circuit breaker
2.1.1 Charging mode
Mode 1($0$ ~ $t_{1}$)는 정상적으로 부하에 에너지를 공급하기 전 커뮤테이션 커패시터 $C$를 충전하는 단계이다. 제안한 차단기는 공진전류
역주입을 통해 차단 동작을 수행하기 때문에 커뮤테이션 커패시터를 미리 충전시키는 과정이 필요하다.
그림 7. 제안하는 멀티포트 DC 반도체 차단기 동작 파형
Fig. 7. Operating waveforms of the proposed multi-port DC solid-state circuit breaker
$R_{2}$-$C$-$R_{1}$ 경로를 통해 커뮤테이션 커패시터가 자연적으로 충전되기 때문에 커뮤테이션 커패시터를 충전하기 위한 별도의 제어가
필요 없다. 커뮤테이션 커패시터의 전압이 전원 전압인 $V_{DC}$만큼 충전이 완료되면, 메인 사이리스터 $S_{1}$, $S_{2}$를 턴 온
시켜 Normal Mode로 넘어간다.
2.1.2 Normal mode
Mode 2($t_{1}$ ~ $t_{2}$)는 부하에 에너지를 정상적으로 공급하는 단계이다. Normal Mode에서도 Charging Mode에서와
같이 $R_{2}$-$C$-$R_{1}$ 경로를 통해 커뮤테이션 커패시터가 자연적으로 충전되므로, 내부 기생 저항이나 외부 요인에 의해 커뮤테이션
커패시터가 방전되더라도 커뮤테이션 커패시터는 항상 $V_{DC}$만큼 유지된다.
Mode 3($t_{2}$ ~ $t_{3}$)은 $t_{2}$시점에서 PORT 1에 단락 사고가 발생하여 사고 전류가 상승하는 구간이다. 사고 전류가
사고 발생으로 판단되는 전류만큼 증가하여 $t_{3}$시점에 도달하면 Breaking Mode로 넘어간다.
2.1.3 Breaking mode
Mode 4($t_{3}$ ~ $t_{4}$)는 사고 전류를 차단하기 위해 공진전류를 역주입하는 단계이다. 현재 PORT 1에 단락 사고가 발생하였으므로
보조 사이리스터 $S_{a0}$, $S_{a1}$을 턴 온 시켜 공진전류를 역주입한다. 공진전류로 인해 메인 사이리스터 $S_{1}$에 흐르는 전류는
점차 감소하기 시작한다. 공진전류의 상승 속도가 사고 전류의 상승 속도보다 빨라 공진전류가 사고 전류보다 커지게 되는 시점이 $t_{4}$이다.
Mode 5($t_{4}$ ~ $t_{5}$)는 공진전류가 사고 전류보다 커져 다이오드 $D_{1}$에 전류가 흐르기 시작하는 단계이다. 이때, 메인
사이리스터 $S_{1}$에 흐르는 전류는 0이 되며 사이리스터가 턴 오프되기 위한 시간인 Device $t_{q}$ 시간만큼 다이오드에 전류가 흘러야
메인 사이리스터 $S_{1}$이 완전히 턴 오프된다. 만약 사이리스터의 device $t_{q}$ 시간보다 적은 시간 동안 다이오드에 전류가 흐른다면,
메인 사이리스터 $S_{1}$은 제대로 턴 오프되지 않는다. 그렇게 되면 공진전류가 다시 사고 전류보다 작아질 때, 사고 전류가 다시 메인 사이리스터
$S_{1}$을 통해서 흐르게 되므로 정상적인 차단 동작을 수행할 수 없다.
다이오드를 통해 전류가 흐를 때, 공진전류의 값이 최대가 되는 시점부터 커뮤테이션 커패시터는 역방향으로 충전을 시작하며, $t_{5}$시점에서 공진전류는
다시 사고 전류와 같아진다.
Mode 6($t_{5}$ ~ $t_{6}$)은 공진전류와 사고 전류가 같은 값을 갖는 구간이다. 공진전류가 사고 전류보다 작아져 다시 메인 사이리스터
$S_{1}$을 통해 전류가 흐르려 하지만 메인 사이리스터 $S_{1}$이 턴 오프되어 전류가 흐를 수 없으므로 $S_{a0}$-$C$-$L$-$S_{a1}$
경로를 통해 공진전류와 사고 전류는 같은 경로로 흐르게 된다. 이때, 선로의 인덕터 성분인 $L_{S}$에 의해 커뮤테이션 커패시터에는 기존에 충전되어
있던 $V_{DC}$전압보다 더 큰 전압이 역방향으로 충전된다. 커뮤테이션 커패시터가 역방향으로 충전이 완료되면서, 사고 전류가 차단되고 Recharging
Mode로 넘어가게 된다.
2.1.4 Recharging mode
각 PORT의 부하에 흐르는 전류인 $I_{load1}$과 $I_{load2}$의 파형을 확인해 보면, 단락 사고가 발생한 PORT 1의 부하 전류는
차단되고 사고가 발생하지 않은 PORT 2의 부하 전류는 정상적으로 흐르는 것을 확인할 수 있다. 그리고 Recharging Mode에 들어온 후,
Mode 7로 넘어가기 전 $t_{6}$ ~ $t_{7}$에 해당하는 짧은 시간 동안 $R_{2}$-$C$-$R_{1}$ 경로를 통해 역충전된 커뮤테이션
커패시터가 방전된다.
Mode 7($t_{7}$ ~ $t_{8}$)은 사이리스터 $S_{r0}$, $S_{r1}$을 턴 온 시켜 역충전된 커뮤테이션 커패시터의 공진 경로를
형성하는 단계이다. Recharging Mode에서 Mode 7로 넘어가기 전 $t_{6}$ ~ $t_{7}$의 시간만큼 시간차를 두는 이유는 사이리스터
$S_{r0}$, $S_{r1}$의 턴 온 타이밍과 관련이 있다. Breaking Mode에서 PORT 1의 사고 전류를 차단하기 위해 턴 온 시킨
보조 사이리스터 $S_{a0}$, $S_{a1}$은 실제로 $t_{6}$시점에서 바로 턴 오프되지 않고 역방향으로 약간의 전류를 흘려주어야 완전히
턴 오프된다. 만약 보조 사이리스터 $S_{a0}$, $S_{a1}$이 완전히 턴 오프되지 않은 상태에서 사이리스터 $S_{r0}$, $S_{r1}$을
턴 온 시킨다면, $S_{r1}$-$S_{a1}$ 경로를 통해 사고 전류가 다시 흐르게 된다. 따라서, 사이리스터 $S_{r0}$, $S_{r1}$의
턴 온 타이밍은 Recharging Mode에서 가장 중요한 점이라고 할 수 있으며, 보조 사이리스터 $S_{a0}$, $S_{a1}$의 턴 오프
이후 충분한 여유를 주고 사이리스터 $S_{r0}$, $S_{r1}$를 턴 온 시키는 것이 좋다. 충분한 여유라고 해도 수십 ~ 수백 μs 정도밖에
되지 않는 짧은 시간이므로 차단기의 신뢰성과 안정성을 위해서 충분한 여유를 두는 것이 좋다.
Mode 8($t_{8}$ ~ $t_{9}$)은 사이리스터 $S_{r0}$, $S_{r1}$을 통해 빠르게 공진이 일어나 커뮤테이션 커패시터가 다시
원래의 방향대로 충전이 되고 난 후의 단계이다. 역충전된 커뮤테이션 커패시터 전압의 최댓값이 $V_{DC}$전압보다 컸기 때문에, 공진으로 인해 다시
원래의 방향대로 충전된 커뮤테이션 커패시터의 전압값도 $V_{DC}$전압보다 커지게 된다. 커뮤테이션 커패시터에 충전된 전압이 전원 전압보다 크기
때문에 $R_{1}$-$C$-$R_{2}$ 경로를 통해 커뮤테이션 커패시터의 전압이 전원 전압인 $V_{DC}$와 같아질 때까지 커뮤테이션 커패시터는
방전하게 된다.
Mode 8에서 커뮤테이션 커패시터가 원래의 방향대로 충전이 완료되는 순간부터 차단기는 재차단 동작이 가능한 상태가 된다. 차단 동작을 수행하고 다시
재차단 동작이 가능하기까지 걸리는 시간은 차단 동작이 이루어지는 시간보다 짧으며, 이는 하나의 차단부를 통해 모든 포트의 차단 동작을 수행하는 멀티포트
차단기에 있어서 신뢰성과 안정성을 높일 수 있는 우수한 특성이라고 할 수 있다.
2.2 제안하는 차단기의 설계
그림 8은 제안하는 멀티포트 DC 반도체 차단기의 설계 과정을 나타내는 플로우 차트이다. 설계는 그림 4에서 PORT 1만 이용한 단일 포트 기준으로 진행하면 된다. 단일 포트를 기준으로 설계를 진행하는 이유는 차단부가 하나이기 때문이다. 차단부의 설계가
끝나고 소자를 선정하면, 차단기를 설치하고자 하는 곳의 포트 수에 따라 메인 사이리스터부와 보조 사이리스터부만을 추가하면 설계가 완료되기 때문에 포트의
확장에 용이하다.
그림 8. 제안하는 멀티포트 DC 반도체 차단기의 설계 과정
Fig. 8. Design process of the proposed multi-port DC solid-state circuit breaker
본 논문에서 제안하는 멀티포트 DC 반도체 차단기의 주된 사용처는 LVDC 시스템이기 때문에 일반적으로 상위 레벨의 차단기가 존재한다. 또한, 기본적으로
계통 시스템은 보호 협조를 고려하여 설계되기 때문에, 하나의 차단기만으로 보호 시스템을 설계하지는 않는다. 만약 하나의 차단기로만 보호 시스템을 설계한다면,
차단 용량의 초과, 차단기의 노후화 및 오작동 등의 이유로 인해 한 번이라도 차단 동작에 실패할 시 시스템 전체가 손상될 수 있다. 그러므로 차단기도
많은 보호 시스템 중 하나라는 것을 인지하고 목적에 맞는 차단기를 최대한 적은 비용으로 설계하는 것이 좋다.
2.2.1 차단기의 용량 선정
가장 먼저 설계자가 차단기를 설치하고자 하는 지점의 조건에 맞춰 차단기가 차단하고자 하는 용량을 선정해야 한다. 계통의 용량이나 단락 사고 시 예상되는
사고 전류의 값 등을 고려하여 설치 장소의 조건에 맞게 차단기의 용량이 과하지 않도록 설계하기 위해 적절한 용량을 선정할 필요가 있다.
2.2.2 선로의 $L_{S}$, $R_{S}$ 측정
선로의 $L_{S}$, $R_{S}$는 차단기 설계에 있어 중요한 파라미터이다. 특히, 선로의 $L_{S}$은 단락 사고 발생 시 사고 전류의 상승
속도에 관여하므로 차단기 설계에 있어 중요하다. 그림 6의 Mode 3에서처럼 단락 사고가 발생했을 시 사고 전류의 식은 다음과 같다.
식 (1)에서도 볼 수 있듯이 $L_{S}$는 사고 전류와 관련이 있으므로 차단기 설계 시 반드시 측정해야 하는 파라미터이다.
본 논문에서 $L_{S}$, $R_{S}$는 전원 측에 등가적으로 표시하였지만, 실제로는 차단기로부터 부하 측까지의 거리가 포트마다 항상 같을 수는
없으므로 포트마다 부하 측까지의 $L$, $R$ 성분을 각각 고려해야 한다. 부하 측까지의 거리가 가장 가까운 포트의 사고 전류 상승 속도가 가장
빠르므로 해당 포트를 기준으로 차단 동작이 이루어지게 설계하면, 다른 포트의 차단 동작도 정상적으로 수행할 수 있다.
2.2.3 $L$, $C$값에 따른 $I_{L,\: \max}$, $V_{C,\: \max}$, Circuit $t_{q}$값 계산
$L$, $C$값은 본 논문에서 제안하는 차단기의 차단 동작을 수행하는 가장 중요한 파라미터이며, 그 중 실질적인 차단 동작에 기여하는 Circuit
$t_{q}$시간에 대해 먼저 알아볼 필요가 있다. 그림 9는 Breaking Mode에서의 동작 파형을 나타낸 그림이다.
그림 9. Breaking mode에서의 동작 파형
Fig. 9. Waveform of breaking mode
그림 9에서와 같이 Circuit $t_{q}$는 사고 전류 $I_{S}$보다 공진전류 $I_{L}$이 더 커져 다이오드 $D_{1}$에 전류가 흐르는 시간이다.
앞서 Breaking Mode에서 언급했던 사이리스터의 턴 오프 시간인 Device $t_{q}$시간이 Circuit $t_{q}$시간보다 짧아야
사이리스터가 완전히 턴 오프될 수 있다. 만약 Circuit $t_{q}$시간이 Device $t_{q}$시간보다 짧다면, 사이리스터는 턴 오프되지
못하고 차단 동작을 정상적으로 수행할 수 없다. 따라서, Device $t_{q}$와 Circuit $t_{q}$는 제안하는 차단기를 설계함에 있어
매우 중요한 파라미터라고 할 수 있다. Device $t_{q}$는 소자의 Data sheet에 명시된 정해진 값이지만, Circuit $t_{q}$는
$L$, $C$값에 따라 조정할 수 있는 값이기 때문에 설계자의 설계 목적에 맞게 조정이 가능하며, Circuit $t_{q}$값을 조정하기 위해서는
$L$-$C$ 공진전류의 주기와 최댓값을 계산할 필요가 있다.
그림 6의 Mode 4($t_{3}$ ~ $t_{4}$)에서 빨간색 화살표로 표시된 폐경로(Sa0-C-L-Sa1-S1)는 공진전류의 흐름을 나타낸다. 이때,
공진전류 $I_{L}$은 식 (2)와 같고, 공진주파수 $f_{r}$은 식 (3)과 같다.
식 (2)와 (3)으로부터 공진전류의 최댓값 $I_{L,\: \max}$와 공진전류의 주기 $T_{r}$을 구하면 다음의 식과 같다.
사고 전류의 상승 기울기를 고려하여 $L$, $C$값에 따른 적절한 $I_{L,\: \max}$와 $T_{r}$을 계산하면 Circuit $t_{q}$값을
조정할 수 있다. 이 단계에서 다양한 $L$, $C$값에 따른 Circuit $t_{q}$값을 미리 산정해 놓으면, 소자 선정 시 원하는 소자의 Device
$t_{q}$값에 맞춰 Circuit $t_{q}$값을 선정할 수 있다.
$I_{L,\: \max}$값은 Circuit $t_{q}$을 계산하기 위해서도 필요하지만, 소자가 버틸 수 있는 사양을 선정하기 위해서도 필요한
값이다. 마찬가지로 $V_{C,\: \max}$도 계산해야 할 필요가 있다. $V_{C}$는 단락 사고가 발생하지 않으면, 항상 전원 전압인 $V_{DC}$만큼
유지된다. 하지만 단락 사고가 발생하여 차단 동작이 이루어질 시, Breaking Mode의 Mode 6($t_{5}$ ~ $t_{6}$)에서 공진전류와
사고 전류가 같아질 때 선로의 $L_{S}$성분에 의해 $V_{DC}$전압보다 더 큰 전압이 역방향으로 충전된다. 이때의 $V_{C,\: \max}$값을
계산해야 한다.
그림 6의 Mode 6에서 빨간색으로 표시된 부분의 회로와 그림 9를 참고하여 $V_{C,\: \max}$값을 계산하면 다음과 같다.
소자 선정 시, 식 (4)와 식 (9)를 통해 $I_{L,\: \max}$, $V_{C,\: \max}$값을 고려하여 소자의 사양을 선택하는 것이 좋다.
그림 10. Mode 7에서의 등가회로
Fig. 10. Equivalent circuit of Mode 7
$I_{L,\: \max}$, $V_{C,\: \max}$의 값을 계산한 후, 추가로 계산해야 할 값이 있다. 그림 10은 Recharging Mode의 Mode 7($t_{7}$ ~ $t_{8}$)에 해당하는 등가회로를 나타내며, 빨간색 화살표로 표시한 경로는 공진전류의
흐름을 나타낸다. 이때의 공진전류 최댓값은 $I_{L,\: \max}$값과 다르다. $I_{L,\: \max}$는 커패시터가 $V_{DC}$전압만큼
충전되어 있을 때의 공진전류 최댓값이며, 그림 10은 커패시터가 $V_{DC}$가 아닌 역방향 최대치인 $V_{C,\: \max}$만큼 충전되어 있을 때의 공진전류이기 때문이다. 그러므로 그림 10의 공진전류 최댓값을 구해야 할 필요가 있으며, 이를 역방향 공진전류 최댓값 $I_{L,\: r_{-}\max}$라고 정의하겠다. $I_{L,\:
r_{-}\max}$를 구하는 방법은 식 (4)를 통해 알 수 있고, $I_{L,\: \max}$와 $I_{L,\: r_{-}\max}$가 흐르는 사이리스터는 다르므로 두 값을 고려하여 적절한
소자를 선정해야 한다.
2.2.4 소자 선정
그림 6의 Mode 6에서 빨간색으로 표시된 경로를 통해 커패시터에 충전되는 최대전압 $V_{C,\: \max}$값은 식 (9)를 통하여 구할 수 있다. 이때, $V_{C,\: \max}$는 사이리스터 $S_{1}$, $S_{r1}$과 다이오드 $D_{1}$에 인가되기 때문에,
소자 선정 시에 반드시 고려하여 선정해야 한다.
그림 6의 Mode 7에서 $L$-$C$-$S_{r0}$-$S_{r1}$ 경로를 통해 다시 원래의 방향대로 충전된 커패시터의 전압값은 $V_{C,\: \max}$값보다는
약간 작지만, $V_{DC}$전압보다는 크다. 이때 사이리스터 $S_{a0}$, $S_{r0}$에 인가되는 전압은 커패시터의 전압과 저항 $R_{2}$에
걸리는 전압의 합이다. 이 값 또한 $V_{DC}$보다 큰 전압이므로 사이리스터 $S_{a0}$, $S_{r0}$를 선정할 때 고려하여 선정해야 한다.
그리고 공진전류가 흐르는 사이리스터 $S_{a0}$, $S_{a1}$, $S_{r0}$, $S_{r1}$의 선정에는 공진 주기 및 사이리스터에 흐르는
$I_{L,\: \max}$값과 $I_{L,\: r_{-}\max}$값을 각각 고려하여, 데이터시트에 명시된 소자가 순간적으로 흘릴 수 있는 전류의
최댓값과 시간을 확인한 후 선정해야 한다.
메인 사이리스터 $S_{1}$의 선정에는 데이터시트에서 $L$, $C$값에 따른 Circuit $t_{q}$보다 짧은 Device $t_{q}$값을
가지는 사이리스터를 선정한다.
2.2.5 $L$, $C$ 선정
소자 선정이 완료되면, 소자 선정 시 고려했던 $L$, $C$값을 가지는 인덕터와 커패시터를 적절히 선정한다.
2.2.6 저항 $R_{1}$, $R_{2}$ 선정
기존의 DC 반도체 차단기의 설계에서는 재투입 및 재차단을 위한 커패시터의 충전 속도가 $R_{1}$, $R_{2}$값에 의해 결정되었지만, 본 논문에서
제안하는 차단기의 경우 $L$-$C$공진을 통해 커패시터를 재충전하므로 RC 시정수값을 고려하지 않아도 된다. 다만, $R_{1}$, $R_{2}$값의
차이가 크거나, 값이 너무 작으면 차단 동작 시에 사이리스터 $S_{a0}$가 턴 온 되지 않는 현상이 발생할 수 있으므로 적절한 용량의 저항을 선정해야
한다.
2.2.7 PORT의 수에 따라 소자 추가
저항까지 선정한 후, 선정된 소자의 만족 여부에 따라 그림 8의 과정을 참고해 설계를 진행하면 된다. 선정한 소자가 적절하지 않다고 판단되면, 그림 8의 과정을 다시 따라가 적절한 소자를 재선정한다. 선정한 소자가 적절하다고 판단되면, 최종적으로 설계하고자 하는 차단기의 PORT 수에 따라 메인
사이리스터와 보조 사이리스터를 추가하기만 하면 설계가 완료된다.
3. 실험 결과
3.1 실험 파라미터
표 1은 실험 시 사용한 차단기의 각 파라미터와 선정한 사이리스터 및 다이오드 소자를 나타낸다. 선정한 사이리스터의 Device $t_{q}$값은 약 80μs
이다. 단락 사고 상황은 각 부하와 병렬로 연결된 단락 사고 저항 1Ω으로 모의하여 실험을 진행하였다.
표 1 설계 사양 및 선정한 소자
Table 1 Design specifications and selected devices
Parameter
|
Specification/
Selected device
|
Input Voltage ($V_{DC}$)
|
380 [V]
|
PORT 1, PORT 2 Load
|
37.5 [Ω], 25 [Ω]
|
PORT 1, PORT 2 Load current
|
10.1 [A], 15.2 [A]
|
$L_{S}$, $R_{S}$ of power line
|
160 [$\mu$H], 50 [mΩ]
|
$L$, $C$
|
40 [$\mu$H], 50 [$\mu$F]
|
$R_{1}$, $R_{2}$
|
100 [Ω], 100 [Ω]
|
Short fault resistor
|
1 [Ω]
|
Thyristor
|
SEMIKRON
SKKT 57/16E
|
Diode
|
SEMIKRON
SKKD 81/16
|
3.2 실험 회로 구성
그림 11. 실제 실험 시의 등가회로
Fig. 11. Equivalent circuit for actual experiment
그림 11은 실제로 실험을 진행한 회로의 구성을 나타낸다. 차단기 실험의 특성상 큰 사고 전류를 흘려야 하므로, 분전반의 전원을 바로 가져와서 사용하게 되면
위험할 수 있다. 이러한 상황을 고려하여 DC 링크 커패시터에 전압을 미리 충전시켜 놓고 순간적인 직류 전압원으로 이용하였다. 이때, DC 링크 커패시터가
방전되는 시간이 매우 빨라 단락 사고 상황을 위한 신호의 타이밍을 맞추기가 어렵다. 이 부분을 해결하기 위해 부하에 병렬로 연결된 단락 사고 저항에
DC 릴레이를 연결하여 메인 제어부에서 단락 사고 신호를 적절하게 조절할 수 있도록 세팅하여 실험을 진행하였다.
그림 12. 전력 회로
Fig. 12. Power circuit
그림 13. DC 링크 커패시터 (좌), 게이트 드라이버 및 제어부 (우)
Fig. 13. DC link capacitor (left), gate driver and controller (right)
그림 12는 실험을 위해 제작한 전력 회로를 보여주며, 그림 13은 전압원으로 이용한 DC 링크 커패시터와 사이리스터의 제어를 위한 게이트 드라이버 회로 및 제어부를 나타낸다. 제어가 필요한 사이리스터는 총 7개이므로
사이리스터의 구동을 위한 게이트 드라이버 또한 7개를 제작하여 실험을 진행하였다.
3.3 PORT 1 단락 사고 및 동작 책무 실험
그림 14. 차단 동작 시 실험 파형
Fig. 14. The experimental waveforms when blocking operation occurs
그림 15. 동작 책무 확인 실험 파형
Fig. 15. Entire Experimental waveforms to confirm operating duty
그림 14는 PORT 1에 단락 사고가 발생하여 차단 동작이 일어났을 때의 실험 파형이다. 차단 모드 분석에서의 파형과 일치하는 것을 볼 수 있다. 사고가
발생한 PORT 1의 부하 전류는 차단되고, 사고가 발생하지 않은 PORT 2의 부하 전류는 차단 동작이 일어나는 과도 상태를 제외하고는 부하에 정상적으로
흐르는 것을 확인할 수 있다. 또한, 커뮤테이션 커패시터의 재충전 속도가 사고 전류가 차단되는 속도보다 빠른 것을 확인할 수 있다.
그림 15는 차단기의 동작 책무를 확인하기 위한 재투입 및 재차단 실험의 전체적인 파형이다. 재투입 및 재차단을 위한 커뮤테이션 커패시터의 충전 속도가 매우
빠르므로 재투입 시간은 설계자가 원하는 대로 조정이 가능하다. 본 논문에서는 역방향 최대치로 충전된 커뮤테이션 커패시터가 전원 전압인 $V_{DC}$만큼
방전이 진행된 약 30ms 정도의 시간을 두고 재투입을 진행하였다.
부하 전류 파형에는 실험 환경상의 이유로 전원을 기충전된 DC 링크 커패시터를 이용했기 때문에, 투입과 동시에 전압이 방전되는 현상에 의해 뒤로 갈수록
줄어드는 현상을 발생한다. 이는 차단기의 성능과 무관하며, 차단기는 정상적으로 동작하는 것을 확인할 수 있다.
3.4 순차 단락 사고 실험 (PORT 1 단락 사고 – 사고 종료 – PORT 2 단락 사고 – 사고 종료)
그림 16. 순차 단락 사고 실험 파형
Fig. 16. Experimental waveforms for sequential short-circuit accident
그림 16은 순차 단락 사고 발생 시의 실험 파형을 나타낸다. $I_{Sa1}$과 $I_{Sa2}$는 각각 보조 사이리스터 $S_{a1}$, $S_{a2}$을
턴 온 시켰을 때, 각 포트로 흐르는 공진전류를 나타낸다. $I_{Sa1}$과 $I_{Sa2}$를 관찰하는 이유는 차단 동작이 발생하였을 때, 사고가
발생한 포트로만 공진전류가 제대로 흐르는지 확인하기 위함이다. 그림 16을 보면, PORT 1에 사고가 발생했을 때는 $I_{Sa1}$의 파형만 관찰할 수 있다. 이를 통해 공진전류가 보조 사이리스터 $S_{a1}$를
통해서만 흐른다는 것을 알 수 있다. PORT 2에 사고가 발생했을 때는 반대로 $I_{Sa2}$의 파형만 보이며, 보조 사이리스터 $S_{a2}$를
통해서만 공진전류가 흐른다는 것을 알 수 있다.
각 포트의 사고가 해소되면, 차단기의 재투입 대기시간인 30ms 이후에 차단했던 PORT를 다시 재투입하여 정상상태 진입하는 것을 확인할 수 있다.
3.5 동시 단락 사고 실험 (PORT 1 단락 사고 – PORT 2 단락 사고 – 사고 종료)
그림 17. 동시 단락 사고 실험 파형
Fig. 17. Experimental waveforms for simultaneous short-circuit accident
그림 17은 동시 단락 사고가 발생했을 때의 실험 파형이고, 그림 18은 동시 사고가 발생한 부분을 확대한 실험 파형이다. 그림 18을 보면, 수백 μs 정도의 굉장히 짧은 시간 사이 PORT 1과 PORT 2에 사고가 발생한 것을 확인할 수 있다. 기존의 DC 반도체 차단기는
커뮤테이션 커패시터의 재충전 시간이 약 수십 ms 정도였기 때문에, 그림 17과 같은 상황의 사고가 발생한다면 커패시터가 완전히 충전될 때까지 차단기는 차단 동작을 수행할 수가 없다. 반면 본 논문에서 제안하는 차단기의 경우에는
커뮤테이션 커패시터의 재충전 시간이 약 100~110 μs 정도로 매우 빠르므로 그림 17과 같은 상황에도 차단기는 차단 동작을 수행할 수 있다.
그림 18. 동시 단락 사고 시 확대 실험 파형
Fig. 18. Expanded experimental waveform for simultaneous short-circuit accident.
일반적으로 전력 시스템에서 DC 차단기의 역할은 전력 시스템의 고장으로 인한 사고 확산의 방지이다. 전력 시스템의 여러 부하에는 인버터 및 컨버터와
같은 전력전자 시스템이 존재하는데 이러한 전력전자 시스템에서 회로의 고장 검지 및 보호 기능은 1차적으로 전력전자 시스템 내의 보호회로가 담당하게
된다. 만약 이러한 보호회로가 제 기능을 하지 못하여 인버터 및 컨버터와 같은 전력전자 시스템이 고장났을 때, 그 고장이 다른 부하로 확산되지 못하게
방지하는 역할을 담당하는 것이 본 논문에서 연구하고 있는 것과 같은 DC 차단기의 역할이다. 즉, 동시 사고와 같은 매우 특수한 경우는 현실적으로
일어나기 힘든 경우이다. 본 논문의 동시 사고 상황은 이런 특수 케이스에 대한 동작 특성도 있다는 것을 보여주기 위한 내용이다. 가능성이 희박한 특수
경우 하나만을 위해 모든 포트에 차단기를 설치하는 것보다, 멀티포트 차단기 하나로 모든 포트를 관리하면서 동시 사고와 같은 특수한 상황이 발생할 경우에만
상위 레벨의 차단기를 동작시키는 것이 더 적은 비용을 들이면서 효율적인 시스템을 구축하는 방법이라고 할 수 있다.
그림 17에서 PORT 1과 PORT 2를 모두 차단한 이후에 PORT 1과 PORT 2에서 전류값은 0이며, 어떤 포트에 사고가 지속 중이고 끝났는지 알
수 없는 상태이다. 만약 두 PORT 모두 사고 상태가 지속 중인데 동시에 재투입을 진행하게 되면, 하나의 PORT를 차단하는 동안 다른 PORT는
사고 전류가 흐를 수밖에 없다. 본 논문에서 제안하는 차단기가 차단 동작 수행 후 재차단까지 소요되는 시간이 매우 짧다 하더라도 사고 전류가 흐르는
것은 계통에 좋지 않다.
따라서, 이 경우에는 PORT를 하나씩 순차적으로 재투입과 재차단 동작을 진행하게 된다. 재투입 시 사고가 지속 중이면 재차단 동작 후 다음 PORT의
재투입을 진행한다. 만약 재투입 시 일정 시간 동안 사고 전류를 검지하지 않으면, 해당 PORT는 정상상태로 진입하며 다른 PORT의 재투입 및 재차단을
진행하게 된다. 즉 이를 위해 그림 17에서도 두 PORT가 모두 차단된 이후에 $I_{Sa1}$과 $I_{Sa2}$의 파형이 번갈아 나오는 것을 확인할 수 있다. 이를 통해 각 PORT를
순차적으로 재투입 및 재차단하고 있는 것을 볼 수 있다. 그리고 사고가 종료된 이후에는 다시 정상상태로 진입하는 것을 확인할 수 있다.
3.6 실험 결과 정리 및 차단기 특성 비교
표 2 멀티포트 시스템에서의 차단기 특성 비교
Table 2 Comparison of circuit breaker characteristics in multi-port systems
|
Existing circuit breaker [15]
|
Existing circuit breaker [16]
|
Multi-port circuit breaker
|
Section that need to be expanded when the number of ports increases
|
Main thyristor section
Auxiliary thyristor section
Blocking section
|
Main thyristor section
Auxiliary thyristor section
Blocking section
|
Main thyristor section
Auxiliary thyristor section
|
Devices required for N-ports design
|
Thyristor - 3N
Diode - N
$L$ - N
$C$ - N
Resistor - 2N
|
Thyristor - 6N
Diode - 2N
$L$ - N
$C$ - N
Resistor - 2N
|
Thyristor 2N+3
Diode N
$L$ - 1
$C$ - 1
Resistor - 2
|
Natural charging of commutation capacitor
|
O
|
O
|
O
|
Recharging rate of commutation capacitor
|
Dozens of ms
|
Dozens of ms
|
About 100~110 μs
|
Operating duty
|
O
|
O
|
O
|
본 논문에서 제안하는 멀티포트 DC 반도체 차단기의 동작 특성은 실험을 통해 검증되었다. 각 포트에 독립적으로 사고가 발생하였을 때, 사고가 발생한
포트만 차단 동작을 수행하고 사고가 발생하지 않은 포트는 부하에 정상적으로 에너지를 전달하였다. 또한, 각 포트에 순차적으로 사고가 발생하였을 때도
차단 동작이 정상적으로 이루어지는 것을 확인하였고, 동시 사고라는 특수한 상황에서도 차단 동작을 수행하는 것을 확인해 보았다. 이처럼 제안하는 멀티포트
DC 반도체 차단기는 하나의 차단기로 여러 포트의 차단 동작을 정상적으로 잘 수행하였으며, 차단기의 동작 책무 규정에 따른 재투입과 재차단 동작도
올바르게 수행하는 것을 검증하였다.
표 2는 기존의 차단기를 이용하여 구현한 멀티포트 차단기와 본 논문에서 제안하는 멀티포트 차단기의 대표적인 특성을 비교한 표이다. 표 2에서 확인할 수 있듯이 제안하는 멀티포트 차단기는 기존의 멀티포트 차단에 비해 필요로 하는 소자의 수가 매우 적다는 것을 확인할 수 있다. 따라서
제안한 멀티포트 차단기는 제작 비용과 시스템의 부피와 무게를 크게 줄일 수 있다.
또한, 본 논문에서 제안하는 멀티포트 차단기의 커뮤테이션 커패시터의 재충전 속도는 기존의 멀티포트 차단기보다 월등히 빠르다. 이러한 특성은 하나의
차단기로 모든 포트를 관리하는 멀티포트 차단기의 신뢰성과 안정성 향상에 있어 우수한 특성이라고 할 수 있다.
4. 결 론
본 논문에서는 LVDC의 멀티포트 배전시스템에서 효율적으로 활용할 수 있는 멀티포트 DC 반도체 차단기를 제안한다. 제안하는 차단기는 포트의 수가
증가하더라도 메인 사이리스터부와 보조 사이리스터부만을 추가하면 되기 때문에 포트의 확장에 있어 용이하다. 그리고 기존의 DC 차단기들에 비해 차단
동작을 위한 커뮤테이션 커패시터의 재충전 속도가 매우 빠르다. 이는 하나의 차단기로 모든 포트의 차단 동작을 수행해야 하는 멀티포트 차단기에 있어
매우 중요한 특성으로 차단기의 신뢰성과 안정성을 높여준다.
제안하는 멀티포트 DC 반도체 차단기는 실험을 통해 여러 상황에서의 차단 동작을 검증하였다. 하나의 차단부로 각 포트의 차단 동작을 정상적으로 수행하였으며,
매우 짧은 커뮤테이션 커패시터의 재충전 속도에 의해 거의 동시에 사고가 발생하더라도 차단 동작을 정상적으로 수행하였다. 차단기의 재투입 및 재차단의
동작 책무 또한 실험을 통하여 문제없이 동작하는 것을 검증하였다. 이에 본 논문에서 제안하는 멀티포트 DC 반도체 차단기는 LVDC 멀티포트 시스템에서
유용하게 사용할 수 있는 대안이 될 것으로 생각된다.
Acknowledgements
이 논문은 부경대학교 자율창의학술연구비(2023년)에 의하여 연구되었음
References
Seung-Yeol Oh, “Low-voltage DC distribution technology trends and development strategies,”
KIPE magazine, vol. 27, no. 4, pp. 28-33, 2022.

Sang-Woo Jung, Yoon-Young An, & Ki-Il Kim, “A Study on the Efficient ESS Charging
/Discharging Operation Algorithm in LVDC Microgrid Environment,” The transactions
of The Korean Institute of Electrical Engineers, vol. 73, no. 6, 1063-1073, 2024.

Trinh Phi Hai, Il-Yop Chung, Taehoon Kim, Juyong Kim, “Coordinated Voltage Control
Scheme for Multi-Terminal Low-Voltage DC Distribution System,” Journal of Electrical
Engineering & Technology, vol. 13, no. 4, pp. 1459-1473, 2018.

Y. Wang, X. Wu, J. Wang, F. Tang, Y. Wu, and Q. Yu, “Design of Multi-Port LVDC-SOP
Based on Four-switch Converter,” 2023 IEEE 6th International Electrical and Energy
Conference (CIEEC), pp. 2058-2063, 2023.

H. P V, S. Kasicheyanula, S. Mathapati, and K. Basu, “A Three-phase MVAC to Multi-port
LVDC Converter with High Frequency Isolation for Fast DC Charging Station for EVs,”
2023 IEEE Energy Conversion Congress and Exposition (ECCE), pp. 33-38, 2023.

S. Zheng, R. Kheirollahi, J. Pan, L. Xue, J. Wang, and F. Lu, “DC Circuit Breakers:
A Technology Development Status Survey,” IEEE Transactions on Smart Grid, vol. 13,
no. 5, pp. 3915-3928, Sept, 2022,

Qunhai Huo, Jiawang Xiong, Ningyu Zhang, Xinming Guo, Lixin Wu, Tongzhen Wei, “Review
of DC circuit breaker application,” Electric Power Systems Research, vol. 209, 2022.

Jungwook Sim, “Technological trends of solid state circuit breaker for LVDC,” The
Korean Institute of Electrical Engineers, vol. 71, no. 7, 12-15, 2022.

R. Rodrigues, Y. Du, A. Antoniazzi, and P. Cairoli, “A Review of Solid-State Circuit
Breakers,” IEEE Transactions on Power Electronics, vol. 36, no. 1, pp. 364-377, Jan,
2021.

R. Kheirollahi, S. Zhao, and F. Lu, “Fault Current Bypass-Based LVDC Solid-State Circuit
Breakers,” IEEE Transactions on Power Electronics, vol. 37, no. 1, pp. 7-13, Jan,
2022.

M. Marwaha et al., “SCR-Based Bidirectional Circuit Breaker for DC System Protection
With Soft Reclosing Capability,” IEEE Transactions on Industrial Electronics, vol.
70, no. 5, pp. 4739-4750, May, 2023.

C. Meyer, S. Schroder, and R. W. De Doncker, “Solid-State circuit breakers and current
limiters for medium-voltage systems having distributed power systems,” IEEE Trans.
Power Electron., vol. 19, no. 5, pp. 1333–1340, Sep. 2004.

C. Meyer, and R. W. De Doncker, “Solid-State Circuit Breaker Based on Active Thyristor
Topologies,” IEEE Trans. Power Electronics, vol. 21, No. 2, pp. 450–458, Mar. 2006.

J. -Y. Yu, J. -Y. Kim, S. -M. Song, Z. Ayubu, and I. -D. Kim, “New DC Solid-State
Circuit Breaker with Natural Charging Operation,” IEEE Transactions on Industrial
Electronics, vol. 68, no. 11, pp. 10360-10368, Nov. 2021.

Z. Ayubu, J. -Y. Kim, J. -Y. Yu, S. -M. Song, and I. -D. Kim, “Novel Bidirectional
DC Solid-State Circuit Breaker With Operating Duty Capability,” IEEE Transactions
on Industrial Electronics, vol. 68, no. 10, pp. 9104-9113, Oct. 2021.

저자소개
2023년 2월 부경대 전기공학과 졸업. 2024년 8월 부경대 대학원 전기공학과 졸업(석사). 2024년 7월~현재 HD현대일렉트릭 엔지니어.
1984년 서울대 공대 전기공학과 졸업. 1987년 한국과학기술원 전기 및 전자공학과 졸업(석사). 1991년 동 대학원 졸업(박사). 1991년~1996년
대우중공업 철도차량연구소 책임연구원. 1997년~1998년 미국 Univ. of Tennessee Post Doc., 2004년~2005년 미국 Virginia
Tech 방문교수. 2020년 대한전기학회 전기기기 및 에너지변환부문회 회장. 2021년 ICEMS 2021 General Chairman. 1996년~현재
부경대 전기공학과 교수.
E-mail : idkim@pknu.ac.kr